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口腔数字印模仪产品描述:通常由探头、主机和软件组成。扫描光源为弱激光等。 口腔数字印模仪预期用途:获取患者口内三维数字影像,用于口腔修复、正畸、种植、外科等治疗。 口腔数字印模仪品名举例:口腔数字印模仪、口腔光学扫描仪 口腔数字印模仪管理类别:Ⅱ 口腔数字观察仪产品描述:通常由摄像手柄和显示器等组成。利用摄像功能,观察口腔内各部位状态的设备...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月08日
检测项:全项目 检测样品:通用示波器 标准:GB/T6585-1996 阴板射线示波器通用规范
检测项:全项目 检测样品:数字仪表 标准:数字多用表通用技术条件GB/T13978-2008 安装式数字安装式数字显示电测量仪表GB/T22264-2008
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:水平偏转 检测样品:示波器 标准:阴级射线示波器通用规范 GB/T 6585-1996
检测项:冲击 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则 IEC 60068-2-64-2008
检测项:随机振动 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则 GB/T 2423.56-2006
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:示波器 标准:阴极射线示波器通用规范 GT/T 6585-1996
检测项:全部参数 检测样品:数字多(万)用表、电参数测量仪、数字功率计、交流数字功率表、直流电子负载 标准:数字多用表 GB/T 13978-2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:存储柜跌落测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
检测项:外挡测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
检测项:锁测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:能耗 检测样品:数据中心存储设备 标准:能源之星数据中心存储设备 1.0版 能源之星数据中心存储设品测试方法,Rev. Aug 2013
检测项:存储拨号呼叫 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙特别工作组(SIG) 免提配置文件测试规范 测试套件结构(TSS)和测试目的(TP) HFP.TS.1.6.4(2013)
检测项:频率稳定性 检测样品:数字增强型无线通信(DECT)设备 标准:数字增强无绳通信(DECT);EN数字增强无绳通信(DECT)满足R&TTE指令中条款3.2要求的协调标准;普通无线电 ETSI EN 301 406 V2.1.1(2009-07)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:自由跌落试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
检测项:冲击试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
检测项:湿热试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
机构所在地:广东省珠海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:存储器 标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996
检测项:静态功耗PD 检测样品:A/D 、D/A转换器 标准:《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996
检测项:差模开环电压增益AVD 检测样品:A/D 、D/A转换器 标准:《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:采样-保持失调电压VOS 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:全部项目* 检测样品:电子数据存储介质复制工具 标准:《电子数据存储介质复制工具要求及检测方法》 GA/T 754-2008
检测项:全部项目* 检测样品:电子数据存储介质写保护设备 标准:《电子数据存储介质写保护设备要求及检测方法》 GA/T 755-2008
检测项:全部项目** 检测样品:USB移动存储介质管理系统 标准:《信息安全技术 USB移动存储介质管理系统安全技术要求》 GA/T 987-2012
检测项:静态参数 检测样品:MOS随机存储器 标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项:动态参数 检测样品:MOS随机存储器 标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项:静态参数 检测样品:双极性随机存储器 标准:半导体集成电路双极型随机存储器器测试方法的基本原理 SJ/T 10740-1996
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>