中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成接口电路线电路 标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局广播电视规划院广播电视计量检测中心

检测项：交流电网电源的断接 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 第一部分:通用要求 GB4943-2011，EN60950:2001； 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008，EN55022:2006； 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB176

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 第一部分:通用要求 GB4943-2011，EN60950:2001； 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008，EN55022:2006； 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB176

检测项：谐波电流 检测样品：广播电视专用设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 GB13837-2003，EN55013:2001； 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008，EN55022:2006； 电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤1

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

重庆电气产品检测中心

检测项：部分项目 检测样品：自动转换开关电器 标准：低压开关设备和控制设备　 第6-1部分：多功能电器 转换开关电器 GB14048.11-2008

检测项：部分项目 检测样品：电流互感器 标准：电流互感器 GB 1208-2006

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003 家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第2.1部分：一般规则对动作功能与电源电压无关的RCBO的适用性 GB 169

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司广州分公司

检测项：电流分断 检测样品：器具插座 标准：家用和类似用途插头插座第2-2部分:器具插座的特殊要求; IEC 60884-2-2(ed.2):2006 J 60884-2-2 (JIS C 8282-2-2:2010) NBR IEC 60884-2-2:2008

检测项：分断容量 检测样品：家用和类似用途插头插座 标准：电气附件的通用要求-规范 BS 5733:2010

检测项：分断容量 检测样品：插座转换器 标准：认可和试验规范--插座转换器 AS/NZS 3122:2005

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

昆明高海拔电器检测有限公司

检测项：温升 检测样品：高原电工电子产品 标准：特殊环境条件 高原电工电子产品 第2部分：选型和检验规范 GB/T 20626.2-2006

检测项：温升试验 检测样品：高原电工电子产品 标准：特殊环境条件 高原用低压电器技术要求 GB/T 20645-2006

检测项：接通和分断正常负载能力 检测样品：高原电工电子产品 标准：特殊环境条件 高原用低压电器技术要求 GB/T 20645-2006

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

施耐德电气(中国)有限公司上海分公司电力实验室

检测项：最大短时耐受电流下的短路分断能力试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB 14048.1-2006 IEC 60947-1:2007+A1:2010

检测项：最大短时耐受电流下的短路分断能力试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 断路器 标准：低压开关设备和控制设备 第二部分：断路器 GB 14048.2-2008 IEC 60947-2:2006 +A1:2009+A2:2013

检测项：接通和分断能力试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB 14048.1-2006 IEC 60947-1:2007+A1:2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>