最低储存温度检测实验

最低成膜温度

简介

最低成膜温度(Minimum filming temperature) 合成乳液体系形成连续胶膜的最低温度，称最低成膜温度，简称MFT 最低成膜温度测试仪器：最低成膜温度测定仪查看详情>>

最低成膜温度

简介

最低成膜温度(Minimum filming temperature)

合成乳液体系形成连续胶膜的最低温度，称最低成膜温度，简称MFT

最低成膜温度测试仪器：最低成膜温度测定仪

检测项目

最低成膜温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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陕西省计量科学研究院

检测项：储存温度范围检测样品：硅压阻式压力传感器标准：硅压阻式压力传感器 JB/T 10524-2005

检测项：电子单元的环境温度影响误差检测样品：工业pH计标准：仪器仪表运输、运输储存基本环境条件及试验方法 JB/T 9329-1999 电子工业产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法 GB/T 2423.4-1993

检测项：低温储存检测样品：电阻应变式压力传感器标准：电阻应变式压力传感器总规范 GB/T 18806-2002

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苏州苏勃检测技术服务有限公司

检测项：高温试验检测样品：塑料及有关制品标准：只测: 3.4.6温度储存，体积＜4000mm×2000mm×3000mm

检测项：温度变化试验检测样品：电工电子产品标准：只测： Na和Nb 温度：（-60～150）℃时，体积＜1000mm×1000mm×800mm

检测项：温度/振动综合试验检测样品：电工电子产品标准：只测：温度:-60℃～150℃ 湿度：20%RH～98%RH 频率：5Hz～2800Hz

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贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：温度冲击检测样品：军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验GJB150.5-1986

检测项：温度-高度检测样品：军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度-高度试验GJB150.6-1986

检测项：温度变化试验检测样品：民用电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化试验方法 GB/T 2423.22-2012

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梅州线艺科技有限公司线艺测试服务中心

检测项：高温储存检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法寿命（在提高的环境温度下）MIL-STD-202G Method 108A-1963

检测项：温度循环检测样品：电子元件标准：温度循环 JESD22 Method A-104D-2009

检测项：工作寿命检测样品：电子元件标准：所有规格的（音频，功率和大功率脉冲）变压器和电感的性能标准 MIL-PRF-27F-1999

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宁波信泰机械有限公司检测中心

检测项：环境试验检测样品：塑料及塑料制品标准：17.塑料镀铬件的最低性能要求 GMW14668-2010

检测项：负荷变形/维卡软化温度检测样品：塑料及塑料制品标准：1.塑料侧立方式，弯曲负荷下变形温度的标准试验方法 ASTM D648-07

检测项：负荷变形/维卡软化温度检测样品：塑料及塑料制品标准：2.塑料维卡软化点温度的标准试验方法 ASTM D1525-09

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中国电子科技集团公司第二十研究所校准/检测实验室

检测项：低温试验检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB150.4-1986

检测项：低温试验检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备标准：舰船电子设备环境试验低温贮存试验 GJB4.4-1983

检测项：低温试验检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB150.4-1986

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北京自动化控制设备研究所惯控实验中心

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：不测： GB/T2423.1-2008中试验Ae；只测：工作室容积： ≤0.8m3时，最低温度：－70℃；工作室容积： ≤1.3m3时，最低温度：－65℃；工作室容积： ≤4m3时，最低温度：－65℃。

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：不测： GB/T2423.1-2008中试验Ae；只测：工作室容积： ≤0.8m3时，最低温度：－70℃；工作室容积： ≤1.3m3时，最低温度：－65℃；工作室容积： ≤4m3时，最低温度：－65℃。

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：不测： GB/T2423.1-2008中试验Ae；只测：工作室容积： ≤0.8m3时，最低温度：－70℃；工作室容积： ≤1.3m3时，最低温度：－65℃；工作室容积： ≤4m3时，最低温度：－65℃。

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB 150.4-86

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB 150.4-86

检测项：温度冲击、温度变化试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB 150.5-86

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北京快尔环可实验技术有限公司

检测项：低温试验检测样品：军工及民用电气、电子和机械类产品标准：军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验 GJB150.4A-2009

检测项：温度冲击试验检测样品：军工及民用电气、电子和机械类产品标准：军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-2009

检测项：温度冲击试验检测样品：军工及民用电气、电子和机械类产品标准：军用设备环境试验方法湿热试验GJB150.9-1986

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北京朗波尔光电股份有限公司检测中心

检测项：低温检测样品：电子电工产品（含环境试验）标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：温度变化检测样品：电子电工产品（含环境试验）标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法　试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012

检测项：高温检测样品：电子电工产品（含环境试验）标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 2423.2-2008

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