最大共模输入电压检测实验

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅲ

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生弱激光（小于等于GB 7247标准的3R），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅱ

激光扫描检眼镜相关标准：

1、YY/T 1036-2004 压陷式眼压计
2、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机
3、YY/T 0633-2008 眼科仪器间接检眼镜

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：最大反向输入直流电压（VR）检测样品：光电耦合器标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：运算放大器标准：GB/T17940-2000 《半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路》

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输入失调电压检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

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检测项：直流电压共模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：直流电压串模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：直流电流最大输入电流检测样品：电子式水处理器标准：电子式水处理器技术条件 HG/T 3133—2006

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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检测项：交流共模抑制能力检测样品：直流数字电压表标准：数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008

检测项：共模干扰抑制能力实验检测样品：直流数字电压表标准：数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008

检测项：最大输入电压检测样品：标准：

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温州市计量技术研究院

检测项：共模干扰影响检测样品：温度二次仪表标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪GB/T 13639-2008 过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序GB/T18271.3-2000

检测项：串模干扰影响检测样品：温度二次仪表标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪GB/T 13639-2008 过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序GB/T18271.3-2000

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乐清市质量技术监督检测院

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检测项：输入特性检测样品：冲击电压测试仪标准：《低压电器冲击电压试验仪》JB/T7083-1993

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：共模抑制比(CMRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入箝位电压(VIK) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

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湖南航天管理局计量检测中心

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