中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益 检测样品：电压 比较器 标准：半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

深圳市中兴通讯技术服务有限责任公司认证检测事业部

检测项：Out-of-band gain (带外增益) 检测样品：基站及WiFi接入点设备 标准：ETSI EN 301 908-5 V5.2.1 (2011-05)：电磁兼容性和无线电频谱事项(ERM)；协调标准包含无线电和电信终端设备指令第3.2条中的基本要求；第3部分：CDMA直接传输基站（UTRA FDD）

检测项：Out-of-band gain (带外增益) 检测样品：基站及WiFi接入点设备 标准：ETSI EN 300 609V10.2.1（2012-11）GSM,第4部分，协调标准中的第3.2条就是关于GSM直放站的基本要求。

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

摩比天线技术（深圳）有限公司检测中心

检测项：增益 检测样品：移动通信系统基站天线 标准：《移动通信系统基站天线技术条件》 YD/T 1059-2004 《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：增益 检测样品：移动通信室内信号分布系统天线 标准：《移动通信室内信号分布系统天线技术条件》 GB/T 21195-2007 《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：增益 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网智能天线 标准：《TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网智能天线 第1部分：天线》 YD/T 1710.1-2007 《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

福建省无线电检测中心

检测项：最大增益 检测样品：800MHz CDMA直放站 标准：信息产业部《关于800MHz频段CDMA系统基站和直放机杂散发射限值及与900MHz频段GSM系统邻频共用设台要求的通知 信部无[2002]65号 关于发布《800MHz CDMA移动通信直放机技术指标》的通知 信无函[2001]32号 CDMA200

检测项：增益调节步长及误差 检测样品：800MHz CDMA直放站 标准：信息产业部《关于800MHz频段CDMA系统基站和直放机杂散发射限值及与900MHz频段GSM系统邻频共用设台要求的通知 信部无[2002]65号 关于发布《800MHz CDMA移动通信直放机技术指标》的通知 信无函[2001]32号 CDMA200

检测项：带外增益 检测样品：GSM直放站 标准：关于加强直放站管理的通知 信无[1999]62号文 900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1337-2005 数字蜂窝通信系统（第2和2+阶段）（GSM）基站系统（BSS）设备规范；第4部分：直放站

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

湖南省计量检测研究院

检测项：传声增益 检测样品：广播扩声系统 标准：GB50339-2013 智能建筑工程质量验收规范 GY5055-2008 扩声、会议系统安装工程施工及验收规范 GB50526-2010 公共广播系统工程技术规范 GB50371-2006 厅堂扩声系统设计规范

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家电光源质量监督检验中心（北京）

检测项：性能/全部参数 检测样品：荧光灯镇流器 标准：AS/NZS 4783.1:2001荧光灯镇流器特性 第一部份：确定镇流器 — 灯线路能量消耗和特性的测量方法；AS/NZS 4783.2:2002荧光灯镇流器特性 第二部份：能量标识和最小能量特性标准要求

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市质量监督检验技术研究院

检测项：氯 检测样品：电工电子产品 标准：着火危险试验.第10部分:将火中电工产品不正常热的效应减至最小的指南和试验方法.第2节使用球压试验的非金属材料制成的产品的耐热性试验方法 IEC60695-10-2-2003+Cor.1-2006 GB/T5169.21-2006

检测项：碘 检测样品：电工电子产品 标准：着火危险试验.第10部分:将火中电工产品不正常热的效应减至最小的指南和试验方法.第2节使用球压试验的非金属材料制成的产品的耐热性试验方法 IEC60695-10-2-2003+Cor.1-2006 GB/T5169.21-2006

检测项：硫 检测样品：电工电子产品 标准：着火危险试验.第10部分:将火中电工产品不正常热的效应减至最小的指南和试验方法.第2节使用球压试验的非金属材料制成的产品的耐热性试验方法 IEC60695-10-2-2003+Cor.1-2006 GB/T5169.21-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京航天计量测试技术研究所

检测项：最小二乘直线 方程 检测样品：冲击、振动传感器 标准：激光干涉法振动绝对校准 GB/T 20485.11-2006 激光干涉法冲击绝对校准 GB/T 20485.13-2007 振动与冲击传感器的校准方法：温度响应比较测试法GB/T 13823.16-1995 振动与冲击传感器的校准方法：横向灵敏度测试G

机构所在地：北京市 更多相关信息>>