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眼底照相机产品描述:通常由照明系统、观察系统、成像系统等组成。可与单独的查看软件配合使用,并实现附加功能。 眼底照相机预期用途:用于拍摄眼部图像,观察和诊断视网膜病变。 眼底照相机品名举例:眼底照相机、数字眼底照相机、免散瞳眼底照相机、免散瞳数码眼底照相机、手持式视网膜照相机、无散瞳数码眼底照相机、手持式免散瞳眼底照相机、眼底摄影机、眼用照相机 眼底照相...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:机箱端口辐射杂散 检测样品: 标准:
检测项:辐射杂散 检测样品:无线网络设备 标准:YD/T 1312.1-2008 无线通信设备电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:通用要求
检测项:天线连接器端口传导杂散 检测样品:无线网络设备 标准:YD/T 1312.1-2008 无线通信设备电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:通用要求
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:噪声等效温差 检测样品:红外温差源 标准:热像仪定型试验规范 GJB3476-98
检测项:输入电流 检测样品: 标准:
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输入输出电平差 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:线路输入最高电平 检测样品:调音台 标准:《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989
检测项:银幕杂散光干扰度 检测样品:星级影院 标准:《电影院星级的划分与评定》GB/T 21048-2007
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理