机内杂散干扰等效输入电平检测实验

眼底照相机

简介

眼底照相机

简介

眼底照相机产品描述：通常由照明系统、观察系统、成像系统等组成。可与单独的查看软件配合使用，并实现附加功能。

眼底照相机预期用途：用于拍摄眼部图像，观察和诊断视网膜病变。

眼底照相机品名举例：眼底照相机、数字眼底照相机、免散瞳眼底照相机、免散瞳数码眼底照相机、手持式视网膜照相机、无散瞳数码眼底照相机、手持式免散瞳眼底照相机、眼底摄影机、眼用照相机

眼底照相机管理类别：Ⅱ

眼底照相机相关指导原则：
1、眼底照相机注册技术审查指导原则

眼底照相机相关标准：
1、YY/T 1154-2009 激光共聚焦扫描仪
2、YY/T 0065-2016 眼科仪器裂隙灯显微镜
3、YY 1296-2016 光学和光子学手术显微镜眼科用手术显微镜的光危害

眼底照相机相关检测项目：
1 . 通用要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
2 . 光学要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
3 . 一般要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
4 . 高眼点目镜《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
5 . 可调亮度《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
6 . 专用信息《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
7 . 清洗、消毒或灭菌措施《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
8 . 环境条件《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
9 . 电气安全要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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上海日立电器有限公司实验认定中心

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检测项：输入功率和工作电流检测样品：电动机-压缩机的性能测试标准：房间空气调节器用全封闭型电动机－压缩机GB/T15765-2006

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上海拖拉机内燃机有限公司工程技术中心实验室

检测项：压缩试验检测样品：金属材料标准：金属材料抗拉试验方法 ASTM E8/E8M-2011

检测项：压缩试验检测样品：金属材料标准：金属材料室温压缩试验方法 GB/T 7314-2005

检测项：弯曲试验检测样品：金属材料标准：金属材料弯曲试验方法 GB/T 232-2010

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL 集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输入低电平电流检测样品：CMOS 集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输入高电平电压检测样品：CMOS 集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：高电平输入电流IIH 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

检测项：低电平输入电流IIL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

检测项：输出高电平电压Voh 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

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北京京航计算通讯研究所飞航软件评测中心

检测项：逻辑等效性分析检测样品：标准：

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青岛海尔空调器有限总公司计量测试中心

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中国核动力研究设计院检测校准实验室

检测项：等效活度检测样品：高活度γ放射源标准：EJ/T 788-1993 高活度γ放射源等效活度测量方法

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松下・万宝（广州）压缩机有限公司检测中心

检测项：制冷量及性能系数检测样品：全封闭型电动机-压缩机标准：房间空调调节器用全封闭型电动机-压缩机GB/T15765-2006

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检测项：整机试验检测样品：飞机内部电子电气设备标准：ARP 5415《飞行器电子电气系统雷电防护》2002年版

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

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检测项：输入高电平检测样品：集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：极限高电平输入电流检测样品：集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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