正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入正向阈值电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.4条

检测项：输入钳位电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.1条

检测项：输入高电平电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.2条

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国家激光器件质量监督检验中心

检测项：正向电压检测样品：半导体激光器标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

检测项：正向电流检测样品：半导体激光器标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

检测项：光功率-正向电流特性检测样品：半导体激光器标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：正向电压检测样品：电阻器标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章3条

检测项：正向电压检测样品：耦合器标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章3条

检测项：正向电压检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条

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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：正向电压检测样品：发光二极管（LED）标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电压检测样品：发光二极管（LED）标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电流检测样品：发光二极管（LED）标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：正向跨导Gfs 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：正向电压检测样品：发光二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995

检测项：正向峰值电压检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：共发射极正向电流传输比静态值检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：GB/T 4023-1997半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：GB/T 4023-1997《半导体器件:分立器件和集成电路第2部分: 整流二极管》 GB/T6571-1995 《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：江苏省连云港市更多相关信息>>

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：正向导通电压检测样品：发光二极管标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：数字集成电路标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分数字集成电路

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-2006 半导体器件分立器件和集成电路总规范

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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