温度波动度检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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脆化温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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北京汽车研究所有限公司实验中心

检测项：极端温度下的功能试验检测样品：标准：

检测项：极端温度下的功能试验检测样品：标准：

检测项：汽车噪声测量检测样品：汽车标准：GB 3847—2005《车用压燃式发动机和压燃式发动机汽车排气烟度排放限值及测量方法》

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南京汽车集团有限公司汽车检测中心

检测项：热变形温度检测样品：塑料及其制品标准：GB/T 1634.1-2004 塑料负荷变形温度的测定第1部分：通用试验方法 GB/T 1634.2-2004 塑料负荷变形温度的测定第2部分：塑料、硬橡胶和长纤维增强复合材料 GB/T 1634.3-2004 塑料负荷变形温度的测定第3部分

检测项：细度检测样品：标准：GB/T 1724-1979 涂料细度测定法

检测项：维卡软化温度检测样品：塑料及其制品标准：GB/T 1633-2000 热塑性塑料维卡软化温度（VST）的测定

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：温度循环检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环（空气-空气）电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验；

检测项：高温寿命（非工作）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：温度循环检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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常熟市产品质量监督检验所

检测项：负荷变形温度检测样品：塑料材料标准：塑料负荷变形温度的测定第1部分：通用试验方法 GB/T 1634.1-2004 塑料负荷变形温度的测定第2部分：塑料、硬橡胶和长纤维增强复合材料 GB/T 1634.2-2004 塑料负荷变形温度的测定第3部分：高强度热固性层压材料 GB/T

检测项：负荷变形温度检测样品：建筑排水用硬聚氯乙烯管件标准：塑料负荷变形温度的测定第1部分：通用试验方法 GB/T 1634.1-2004 塑料负荷变形温度的测定第2部分：塑料、硬橡胶和长纤维增强复合材料 GB/T 1634.2-2004 塑料负荷变形温度的测定第3部分：高强度热固性层压材料 GB/T

检测项：维卡软化温度检测样品：塑料材料标准：热塑性塑料维卡软化温度（VST）的测定 GB/T 1633-2000

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浙江省检验检疫科学技术研究院温州分院

检测项：温度试验检测样品：标准：

检测项：部分参数检测样品：棉胶鞋标准：棉胶鞋 HG/T 2182-2008

检测项：温度试验检测样品：打火机标准：打火机安全规范 ISO 9994:2006+A1:2008

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熊猫电子集团有限公司检测认定中心

检测项：温度冲击试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《军用装备实验室环境试验方法第5部分: 温度冲击试验》GJB 150.5A-2009

检测项：温度冲击试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化》 GB/T 2423.22-2012

检测项：温度-高度试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《军用设备环境试验方法温度-高度试验》 GJB 150.6-1986

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北京自动化控制设备研究所惯控实验中心

检测项：环境应力筛选方法检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：工作室容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃ 温度变化率：（-45～+85）℃ ≤10℃/min；工作室容积： ≤1.3m3 温度范围： (-70～+130)℃，温度变化率：（-55～+85）℃时 ≤15℃/min；均方根

检测项：温度-振动综合试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：工作室容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃ 温度变化率：（-45～+85）℃时，≤10℃/min 均方跟加速度： ≤40g，位移： 50.8mm (p-p), 推力：正弦55kN，随机55kN

检测项：温度-振动综合试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：工作室容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃ 温度变化率：（-45～+85）℃时，≤10℃/min 均方跟加速度： ≤40g，位移： 50.8mm (p-p), 推力：正弦55kN，随机55kN

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四川九洲电器集团有限责任公司环境试验中心

检测项：温度变化试验检测样品：军用设备及电子产品标准：《军用设备环境试验方法温度冲击试验》 GJB150.5-1986

检测项：温度高度试验检测样品：军用设备及电子产品标准：军用装备实验室环境试验方法第24部分:温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24A-2009

检测项：温度变化试验检测样品：军用设备及电子产品标准：《电子产品环境应力筛选方法》 GJB 1032-1990

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郑州飞机装备有限责任公司环境实验中心

检测项：温度冲击试验检测样品：军用设备及机电产品标准：《军用设备环境试验方法温度冲击试验》 GJB150.5-1986

检测项：高温试验检测样品：军用设备及机电产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B：高温》 GB/T2423.2-2008

检测项：温度冲击试验检测样品：军用设备及机电产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验》 GB/T2423.3-2006

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北京机电工程研究所环境可靠性实验室

检测项：温度冲击试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB 150.5-1986

检测项：温度试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用设备环境试验方法高温试验 GJB 150.3-1986

检测项：温度试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB 150.4-1986

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