信息技术设备中电压波动和闪烁的检测

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：阀值电压VT 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：阀值电压VT 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

检测项：启动过冲VT0 检测样品：PWM脉宽调制电路 标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：同步阈值电压VT(S) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：电压调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：通态电压（VT） 检测样品：晶闸管 标准：GB/T15291－94《半导体器件 第6部分 晶闸管》

检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：差分放大器的电压Vo 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：滞后电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.6条

检测项：输入钳位电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005 方法2015.1

检测项：输入钳位电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法2015.13

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：通态直流电压Vt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

检测项：负电源电压抑制比KSVR- 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入阈值电压和滞后电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

陕西省计量科学研究院

检测项：滞后时间 检测样品：玻璃转子流量计 标准：玻璃转子流量计 JB/T 9255-1999

检测项：热零点滞后 检测样品：电阻应变式压力传感器 标准：电阻应变式压力传感器总规范 GB/T 18806-2002

检测项：热灵敏度滞后 检测样品：电阻应变式压力传感器 标准：电阻应变式压力传感器总规范 GB/T 18806-2002

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>