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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:振荡器输出波形(脉冲) 检测样品:振荡器 标准:有质量评定的石英晶体振荡 第1部分:总规范 IEC 60679-1-2007
检测项:输出过压保护 检测样品:通信用直流-直流模块电源 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出信号的和 检测样品:倍频程和分数倍频程滤波器 标准:电声学 倍频程和分数倍频程滤波器 GB/T 3241-2010
检测项:温度 检测样品:外壳对人和设备的防护检验用试具 标准:外壳对人和设备的防护检验用试具GB/T 16842-2008
检测项:长度 检测样品:外壳对人和设备的防护检验用试具 标准:外壳对人和设备的防护检验用试具GB/T 16842-2008
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:最大射频输出功率 检测样品:移动台 标准:电磁兼容性和无线频谱事物(ERM);IMT-2000第三代蜂窝网络的基站(BS),无线电和电信终端设备(UE);第4部分:满足R&TTE指示中的条款3.2的基本要求的IMT-2000, CDMA多重载波(cdma2000)(UTRA FDD) ETSI E
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出电压的纹波试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出电压的短时稳定性试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出短路电流 检测样品:电子式绝缘电阻表 标准:《电阻测量装置通用技术条件第1部分:电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出电流调整率 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>