您当前的位置:首页 > 电压波形畸变率测试
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输入钳位电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:江苏省南京市
机构所在地:广东省深圳市
检测项:畸变负荷 检测样品:电工、电子、 电器产品 及绝缘材料 标准:GB/Z 17625.4-2000 电磁兼容 限值中高压电力系统中畸变负荷发射限值 IEC/TR 61000-3-6:2008
检测项:畸变负荷 检测样品:电磁环境 标准:电磁兼容 限值中高压电力系统中畸变负荷发射限值 GB/Z 17625.4-2000 IEC/TR 61000-3-6:2008
检测项:部分项目 检测样品:灯具 标准:GB 7000.1-2007 灯具 第1部分: 一般要求与试验 IEC 60598-1:2008
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:北京市