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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:环境试验/全部参数 检测样品:船用灯 标准:GB/T 10485-2007道路车辆 外部照明和光信号装置 环境耐久性
检测项:物理性能/全部参数 检测样品:热试验灯泡 标准:IEC 60634:1993灯具热试验用热试验光源(H.T.S)灯
检测项:针焰/全部参数 检测样品:照明电气及类似设备 标准:GB/T5169.5-2008/IEC60695-11-5:2004《电工电子产品着火危险试验 第5部分:试验火焰 针焰试验方法装置、确认试验方法和导则》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:外部检查 检测样品:电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准:微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005
检测项:外部检查 检测样品:电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准:微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006
检测项:外部检查 检测样品:电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准:刚性印制板的鉴定及性能规范 IPC-6012C 条款3.3.1~3.3.5(2010-8)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:耐温耐湿 试验 检测样品:汽车灯具 标准:道路车辆外部照明和光信号装置环境耐久性 (GB/T10485-2007)
检测项:振动试验 检测样品:汽车灯具 标准:道路车辆外部照明和光信号装置环境耐久性 (GB/T10485-2007)
检测项:防尘试验 检测样品:汽车灯具 标准:道路车辆外部照明和光信号装置环境耐久性 (GB/T10485-2007)
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:人工加速老化试验 检测样品:塑料及塑料制品 标准:9.光暴露 外部材料加速老化 VCS 1027,3379-2001
检测项:磨耗试验 检测样品:塑料及塑料制品 标准:2.车厢内部和外部聚合体材料和零件的摩擦色牢度 D45 1010-2010
检测项:耐化学药品性的测定 检测样品:漆与有关的表面涂层 标准:16.外部汽车材料和零件耐燃油性 GMW14333-2009
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:*外部凸出物 检测样品:摩托车、轻便摩托车、助力车 标准:机动车运行安全技术条件GB7258-2004
检测项:*外部凸出物 检测样品:摩托车、轻便摩托车、助力车 标准:两轮及三轮摩托车的外部凸出物97/24/EC C3
检测项:*外部凸出物 检测样品:摩托车、轻便摩托车 标准:两轮及三轮摩托车的外部凸出物97/24/EC C3
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:连接外部导线的接线端子的可靠性试验 检测样品:微型计算机 标准:微型计算机通用规范GB/T9813-2000
检测项:部分参数 检测样品:低压成套开关设备和控制设备 标准:低压成套开关设备和控制设备第1部分:型式试验和部分型式试验成套设备 GB7251.1-2005 IEC 60439-1:1999
检测项:部分参数 检测样品:蜂窝电话用锂离子电池 标准:移动电话用锂离子蓄电池及蓄电池组总规范GB/T18287-2013
检测项:外部目检 检测样品:微波组件 标准:《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000
检测项:湿热试验(恒定) 检测样品:电工电子设备(电工电子、汽车、轨道交通、核电) 标准:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验》GB/T2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:外部尺寸 检测样品:叉车 标准:JB/T 3300-2010平衡重式叉车整机试验方法
检测项:外部结构 检测样品:力量型训练器材 标准:固定式健身器材 第2部分:力量型训练器材附加的特殊安全要求和试验方法 GB 17498.2-2008
检测项:外部尺寸 检测样品:牵引车 标准:JB/T 10750-2007 内燃牵引车
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:外部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》
检测项:外部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》
检测项:漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
检测项:外部目检 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:极限短路电流(基准部分)IOS 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>