电源芯片失效分析检测实验

生物芯片分析仪器

简介

生物芯片分析仪器

简介

生物芯片分析仪器产品描述：通常由主机模块、光电信号采集器模块、计算机系统等组成。原理一般为采集生物芯片上的光、电信号，通过软件进行分析。

生物芯片分析仪器预期用途：用于临床实验室对多种医学检测项目进行定性、半定量或定量检测。

生物芯片分析仪器品名举例：生物免疫层析芯片检测仪、生物芯片反应仪、压电蛋白芯片分析仪、人乳头瘤病毒（HPV）分型基因芯片检测阅读系统、生物芯片阅读仪、微阵列芯片检测仪、微阵列芯片扫描仪、基因芯片阅读仪、基因杂交信号扩大仪

生物芯片分析仪器管理类别：Ⅱ

生物芯片分析仪器相关标准：
1、YY/T 0692-2008 生物芯片基本术语
2、YY/T 1152-2009 生物芯片用醛基基片

收起百科↑ 最近更新：2023年08月31日

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吉林省医疗器械检验所

检测项：网电源部分元器件和布线检测样品：热垫式治疗仪标准：YY/T 0165-2007《热垫式治疗仪》

检测项：激光电源及控制装置要求检测样品：半导体激光治疗仪标准：GB 12257-2000《氦氖激光治疗机通用技术条件》

检测项：网电源部分元器件和布线检测样品：立式压力蒸汽消毒器标准：YY1007-2010立式蒸汽灭菌器

机构所在地：吉林省长春市更多相关信息>>

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东华计量测试研究院

检测项：部分参数检测样品：电子计价秤标准：电子台案秤 GB/T7722-2005

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青岛地恩地机电科技股份有限公司电气实验室

检测项：电源连接与外接电缆和软线检测样品：标准：

检测项：电源连接与外接电缆和软线检测样品：可移式电动电动工具标准：可移式电动工具的安全第一部分：通用要求 EN 61029-1:2009

检测项：电源连接与外接电缆和软线检测样品：带锯标准：可移式电动工具的安全第二部分：带锯的专用要求 EN 61029-2-5:2002

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：电源电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高电平电源流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出低电平电源流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

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阿尔派电子（中国）有限公司大连研发中心检测所

检测项：电源端口骚扰电压检测样品：信息技术设备标准：无线电广播接收机及其有关设备无线电干扰特性的测量方法与限值 GB13837-2003

检测项：电源端口骚扰电压检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254:2008/CISPR 22:2006

检测项：电源端口骚扰电压检测样品：工业、科学、医疗设备标准：工业、科学和医疗(ISM)射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法 CISPR11:2006

机构所在地：辽宁省大连市更多相关信息>>

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国网四川省电力公司电力科学研究院

检测项：直流电源影响试验检测样品：线路保护装置标准：输电线路保护装置通用技术条件 GB/T 15145-2008

检测项：直流电源影响实验检测样品：变压器保护装置标准：变压器保护装置通用技术条件 DL/T 770-2012

检测项：直流电源检测样品：继电保护测试装置标准：继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010

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惠州TCL移动通信有限公司中心实验室

检测项：绝缘电阻检测样品：标准：《移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法》 YD/T1591-2009

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青岛市电子仪表计量检测站

检测项：电源端骚扰电压检测样品：电工电子产品环境试验标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008/ CISPR22:2006

检测项：电源端骚扰电压检测样品：电工电子产品环境试验标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A:低温 GB/T2423.1-2008

检测项：电源端骚扰电压检测样品：电工电子产品环境试验标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008/ CISPR22:2006

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浙江三花股份有限公司计量测试中心

检测项：电源线拉力试验检测样品：四通换向阀标准：家用和类似用途电磁四通换向阀 JB/T 8592-1997

检测项：电源线拉力试验检测样品：双稳态电磁阀标准：小型制冷系统用双稳态电磁阀JB/T 8053-2011

检测项：硅检测样品：金属标准：铁以及钢—ICP发射光谱分析法—第3部：硅、锰、磷、镍、铬、钼、铜、钒、钴、钛和铝的定量方法—酸分解•碳酸钠熔化法 JIS G1258-3：2007

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：无线电骚扰-传导骚扰检测样品：小型开关电源标准：半导体测试方法测试标准 GJB128A-1997 方法3161

检测项：栅极漏电流检测样品：小型开关电源标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

检测项：体二极管压降检测样品：小型开关电源标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法 4011.4

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