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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:机械强度 检测样品:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013
检测项:发热要求 检测样品:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013
检测项:防火 检测样品:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准:单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:低压成套开关设备和控制设备 标准:《低压成套开关设备和控制设备 第1部分:型式试验和部分型式试验 成套设备》 GB 7251.1-2005
检测项:部分参数 检测样品:工业用插头插座和耦合器 标准:《工业用插头插座和耦合器 第1部分:通用要求》 GB/T 11918-2001
检测项:部分参数 检测样品:汽车电气设备 标准:《工业用插头插座和耦合器 第2部分:带插销和插套的电器附件的尺寸互换性要求》 GB/T 11919-2001
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项:输出高电平时电源电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:输出高电平电源电流ICCH 检测样品:CMOS电路 标准:《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电源电流ICCL 检测样品:CMOS电路 标准:《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值电压VOPP 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平时电源电流ICCH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
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检测项:输出低电平电源电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出短路电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:(运算放大器)短路输出电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出高电平 电源电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电子式绝缘电阻表 标准:《电阻测量装置通用技术条件第1部分:电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
检测项:输出电压的纹波试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:短路承受能力试验(PT) 检测样品:组合互感器 标准:《电流互感器》 GB1208-2006 《电力用电流互感器订货技术条件》 DL/T725-2000 《电磁式电压互感器》 GB1207-2006 《电力用电压互感器订货技术条件》 DL/T726-2000 《组合互感器》GB1