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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:低电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出电流 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出电流IO 检测样品:DC/DC变换器 标准:SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:电压校准功能最大输出电流 检测样品:示波器 标准:通用阴极射线示波器测试方法 GB 6585-1996
检测项:反馈电压及电流 检测样品:直流数字电压表 标准:《直流数字电压表及直流模数变换器》 GB/T 14913-1994
检测项:反馈电压及电流 检测样品:直流数字电压表 标准:直流数字电压表及直流模数变换器 GB/T 14913-1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:电子单元在最大负荷下输出电流误差 检测样品:熔点仪 标准:《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992
检测项:电子单元输出电流误差 检测样品:电导(率) 仪 标准:《电导率仪试验方法》 GB 11007-2008 《实验室电导率仪》 JB/T 9366-1999 《工业电导率仪》 JB/T 6855-1993
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:低电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:输出电流 检测样品:DC/DC电源变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出电流IO 检测样品:DC/DC转换器 标准:SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出高电平电流IOH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>