深圳市泰坦时钟表检测有限公司

检测项：部分参数 检测样品：汽车用石英钟 标准：《汽车用石英钟》GB/T 17929-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳电气科学研究所（深圳电气科学研究所中心实验室/深圳电气产品质量检测中心）

检测项：全部参数 检测样品：电能质量 标准：电能质量暂时过电压和瞬态过电压 GB/T 18481-2001

检测项：全部参数 检测样品：发输变 配供电系及 电气设备 标准：GB/T 18481-2001 电能质量暂时过电压和瞬态过电压

检测项：部分项目 检测样品：低压断路器 标准：GB 14048.2-2008 低压开关设备和控制设备 第2部分：断路器 IEC 60947-2:2009

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

索尼移动通信产品（中国）有限公司检测实验室

检测项：电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：移动用户终端及辅助设备 标准：ISO 7637-2-2011 《道路车辆 由传导和耦合引起的电骚扰 第2部分：沿电源线的电瞬态传导》

检测项：电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：移动用户终端及辅助设备 标准：GB/T 21437.2-2008《道路车辆 由传导和耦合引起的电骚扰 第2部分：沿电源线的电瞬态传导》

检测项：电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：移动用户终端及辅助设备 标准：IEC 61000-4-11-2004《电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市鑫宇环检测有限公司

检测项：电源线瞬态发射干扰 检测样品：车载电子零组件 标准：由传导和耦合引起的电骚扰 第2部份：沿电源线的电瞬态传导 GB/T 21437.2：2008 ISO7637-2：2011 SAE J1113-11：2012 EN 50498：2010

检测项：电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：多媒体设备(EMC) 标准：多媒体设备－发射要求 EN 55032：2012 CISPR 32：2012

检测项：电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：工业环境产品(EMC) 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB 17799.3-2012 AS/NZS 61000.6.3:2012 IEC 61000-6-3:2006+A1 :2010

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途电器：液体加热器 标准：家用和类似器具的安全要求,液体加热器的特殊要求 IEC60335-2-15: 2006+A1:2008 。 EN 60335-2-15:2002+A1:2005+A2:2008 AS/NZS 60335.2.15:2002+A1/A2:2003+A3:20

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途电器：电熨斗 标准：家用和类似器具的安全要求，电熨斗的特殊要求 IEC60335-2-3: 2006+A1:2008 IEC 60335-2-3:2002 +A1:2004 +A2:2008。 EN 60335-2-3:2002+A1:2005 +A2:2008+A11:20

检测项：标志和说明 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似器具的安全,通用要求 GB4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 IEC 60335-1: 2001+A1: 2004+A2: 2006 EN 60335-1:2002 +A1/A11:2004 +A2/A12:2006 +A

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：集电极-发射极反向击穿电压 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：双极型晶体管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：工业环境中的电子电气设备 标准：GB/T 17799.4-2012 IEC 61000-6-4:2011 EN 61000-6-4:2007+A1:2011 电磁兼容 通用标准 工业环境中的发射

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：家用电器、电动家用电器、电动工具和类似器具 标准：GB 4343.1-2009 CISPR 14-1:2005+ A1:2008+A2:2011 EN 55014-1:2006+ A2:2011 家用电器、电动工具和类似器具的要求 第1部分：发射

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：电子电气设备 标准：GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降,短时中断和电压变化的抗扰度试验

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程智电子科技（昆山）有限公司

检测项：7 电压暂降短时中断和电压变化抗扰度试验 检测样品：电子、电器产品（单相） 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB/T 17799.3-2012 IEC 61000-6-3:2011 EN 61000-6-3: 2007+A1:2011

检测项：8 电压暂降短时中断和电压变化抗扰度试验 检测样品：电子、电器产品（单相） 标准：电磁兼容 通用标准 工业环境中的发射标准 GB/T 17799.4-2001 IEC 61000-6-4:2011 EN 61000-6-4: 2007+A1:2011

检测项：2.10 电气间隙，爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备（单相） 标准：信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1: 2012 Ed. 2.1 IEC 60950-1: 2013 Ed. 2.2 EN 60950-1: 2006 EN 60950-1: 2006+A1:2010

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：集电极-基极击穿电压，发射极-基极击穿电压 检测样品：整流二极管 标准：GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管

检测项：集电极-基极击穿电压，发射极-基极击穿电压 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>