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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:短路电流Isc 检测样品:模拟乘法器 标准:GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:运算 放大器 标准:半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:输出电流 检测样品: 标准:
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:负载侧电涌耐受能力试验 检测样品:信号网络浪涌保护器(SPD) 标准:信号网络浪涌保护器(SPD)技术要求和测试方法 YD/T 1542-2006
检测项:Ⅰ类和Ⅱ类的动作负载性能 检测样品:信号网络浪涌保护器(SPD) 标准:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器测试方法 YD/T 1235.2-2002
检测项:限制电压(采用8/20µs波形测试) 检测样品:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器(SPD) 标准:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器测试方法 YD/T 1235.2-2002
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:反向截止电流 检测样品:光电耦合器 标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
检测项:电流调整率 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项:短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:光伏组串短路电流的测试 检测样品: 标准:CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:光伏阵列短路电流 检测样品: 标准:CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:电压、电流、功率测试(不含NOCT测试) 检测样品:平面光伏组件和电池板 标准:UL1703:2002平板光伏组件和电池板
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:驻波比 检测样品:失配器/短路器/开路器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入电流II 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>