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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:部分安全项目 检测样品:电池 标准:UL 2054:2011 民用和商用电池
检测项:部分安全项目 检测样品:电池 标准:IEC 62133:2002 BS EN 62133:2003 便携式和便携式装置用密封含碱性电解液 二次电池的安全要求
检测项:安全要求部分项目 检测样品:应急照明用灯具 标准:IEC 60598-1:2008, EN 60598-1:2008+A11:2009, AS/NZS 60598.1:2003, JIS C 6598.1:2010, K60598.1:2001 灯
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:5.1 充电试验 检测样品:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池 标准:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池-安全测试 JIS C 8714:2007
检测项:短路保护 检测样品:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池 标准:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池-安全测试 JIS C 8714:2007
检测项:短路 检测样品:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池 标准:用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池-安全测试 JIS C 8714:2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997
检测项:电流传输比 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:静态参数 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:动态参数 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:静态参数 检测样品:线电路 标准:半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 SJ/T 10803-1996
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:输入短路电压Uo检定 检测样品:脉冲电压表 标准:电子电压表测试方法 GB/T 12116–2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:水平精度 检测样品:光纤陀螺仪 标准:光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004
检测项:定位精度 检测样品:光纤陀螺仪 标准:光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004
检测项:部分项目 检测样品:Class2电源设备 标准:UL 1310:2005 Class2电源设备安全标准
检测项:部分项目 检测样品:荧光灯镇流器 标准:UL 935:2001 荧光灯镇流器
检测项:部分项目 检测样品:直插式小夜灯 标准:UL1786:2011 直插式夜灯
机构所在地:江苏省吴江市 更多相关信息>>
检测项:外部短路测试 检测样品:锂离子电池 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书规章范本》(16th),3.3章 188条款
检测项:外部短路测试 检测样品:锂离子电池 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》(5th 第1次修改) ,38.3章
检测项:冷热冲击测试 检测样品:锂离子电池 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书规章范本》(16th),3.3章 188条款
检测项:协议测试 检测样品:路由器 标准:YD/T 1251.2-2003路由协议一致性测试方法-开放最短路径优先协议(OSPF)
检测项:协议测试 检测样品:路由器 标准:YD/T 1451-2006 IPv6路由协议测试方法-支持IPv6的开放最短路径优先协议(OSPF)
检测项:协议测试 检测样品:路由器 标准:YD/T 1295-2003 支持IPv6的路由协议技术要求-开放最短路径优先协议
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:动作电压测试 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
检测项:返回电压测试 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
检测项:动作时间测试 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006