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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:碰撞试验 检测样品:电工电子产品(环境) 标准:GB/T2423.6-1995 IEC60068-2-27:2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Eb:碰撞
检测项:SELV电路稳定性测试包括危险电压测试 检测样品:信息技术设 备(安全) 标准:GB4943-2011 IEC 60950-1:2009 EN 60950-1:2011 CAN/CSA-C22.2 No. 60950-1-07/UL 60950-1:2011 信息技术设备-安全-第一部分:通用要求
检测项:谐波电流 检测样品:信息技术类设备,通信网络设备(EMC) 标准:ANSI C63.4:2009美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:电动汽车专用部分 检测样品:变速器 标准:GB/T18384.1-2001电动汽车 安全要求 第1部分:车载储能装置
检测项:电性能测试 检测样品:电容器 标准:GJB1042A-2002电磁继电器通用规范
检测项:全部项目 检测样品:镍氢蓄电池 标准:ISO 12405-1-2011电动道路车辆—锂离子动力电池包和系统的测试规范 第1 部分:高功率应用
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:微粒碰撞噪声检测 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:粒子碰撞噪声检测 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:粒子碰撞噪声检测 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:碰撞试验 检测样品:锂电池 标准:锂离子蓄电池总规范 QB/T 2502-2000
检测项:碰撞试验 检测样品:锂电池 标准:进出口危险货物分类试验方法 第14部分:锂电池组 SN/T 1828.14-2006
检测项:特定元素的迁移:砷、钡、镉、铬、铅、汞、锑、硒 检测样品:玩具及儿童用品 标准:ASTM F 963-2011 玩具安全性消费者安全标准规范 4.2 易燃性, A5 硬体和软体玩具的易燃性测试程序, A6 布料的易燃性测试程序
检测项:碰撞 检测样品:LED显示屏 标准:LED显示屏通用规范 SJ/T 11141-2012 发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T 11281-2007
检测项:碰撞 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.6-1995 IEC 60068-2-29:1987
检测项:碰撞 检测样品:按钮开关 标准:电子设备用机电开关 第5部分:按钮开关分规范 GB/T 16514-1996 电气和电子设备用机电开关 第1部分:总规范 GB/T 9536-1995
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:冲击/碰撞试验 检测样品:军用设备、电工电子产品 标准:军用设备环境试验方法 湿热试验GJB150.9-86
检测项:冲击/碰撞试验 检测样品:军用设备、电工电子产品 标准:军用设备环境试验方法 冲击试验GJB150.18-86
检测项:冲击/碰撞试验 检测样品:军用设备、电工电子产品 标准:军用设备环境试验方法 湿热试验GJB150.9-1986
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:石英晶体元件 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:碰撞 检测样品:运输包装件 标准:集装箱振动测试方法 ASTM D999 -2008
检测项:碰撞 检测样品:运输包装件 标准:产品振动测试方法 (垂直线性运动) ASTM D3580-1995(2010)
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法 212 Y1
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:电位器 标准:非线绕预调电位器总规范GJB918-1990 线绕预调电位器总规范 GJB917-1990
检测项:磁感 检测样品:冷轧晶粒磁性钢带(片) 标准:用爱波斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法 GB/T 3655-2008