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检测项:绝缘材料热寿命 检测样品:绝缘及橡塑材料试验方法 标准:IEC 60216-1-2001《电气绝缘材料-耐热性能-第1部分:老化过程和试验结果评定 》
检测机构:国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项:循环寿命 检测样品:便携式家用电器用锂离子电池和电池组 标准:SJ/T11757-2020 便携式家用电器用锂离子电池和电池组通用规范
检测机构:国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项:稳态湿热偏置寿命试验 检测样品:电子器件 标准:稳态湿热偏置寿命试验 JESD22-A101C:2009
检测项:高温存储寿命试验 检测样品:电子器件 标准:高温存储寿命试验 JESD22-A103D:2010
检测项:温度偏置工作寿命试验 检测样品:印刷电路板 标准:温度偏置工作寿命试验 JESD22-A108D:2010
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:寿命 检测样品:双稳态电磁阀 标准:小型制冷系统用双稳态电磁阀JB/T 8053-2011
检测项:寿命 检测样品:双稳态电磁阀 标准:小型制冷系统用双稳态电磁阀 JB/T 8053-2011
检测项:冷热冲击 检测样品:双稳态电磁阀 标准:小型制冷系统用双稳态电磁阀JB/T 8053-2011
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:盐雾 检测样品:电连接器和插座 标准:稳态湿热偏压寿命测试 JESD 22-A101C-2009
检测项:盐雾试验 检测样品:电连接器和插座 标准:稳态湿热偏压寿命测试 JESD 22-A101C-2009
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:稳态 湿热 检测样品:电子元器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100C-2007
检测项:温度冲击 (气体介质) 检测样品:电子元器件 标准:稳态湿热偏置寿命试验EIA/JESD22-A101c-2009
检测项:稳态寿命 检测样品:混合 集成电路外壳 标准:混合集成电路外壳总规范 GJB2440A-2006
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:交变湿热试验 检测样品:电子电气产品环境试验 标准:稳态温度湿度偏置寿命试验 JESD 22-A101C-2009
检测项:中期寿命试验 平均额定寿命 检测样品:螺旋式紧凑型荧光灯(CFL) (定向型/非定型) 标准:IESNA LM-66-2011 能源之星对紧凑型荧光灯(CFLs)的要求Version 4.3
检测项:光源寿命要求 检测样品:LED封装、阵列、模组流明维持测试 标准:IESNA LM-49-2001 能源之星灯具类规范要求-Version 1.1
机构所在地:江苏省吴江市 更多相关信息>>
检测项:稳态寿命 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1015.1
检测项:稳态寿命 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1005A
检测项:稳态寿命 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1015.1
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:1026 稳态工作寿命 检测样品:半导体器件 标准:GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
检测项:1027 稳态工作寿命(抽样方案) 检测样品:半导体器件 标准:GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
检测项:1031 高温寿命(非工作) 检测样品:半导体器件 标准:GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:稳态湿热 检测样品:电工电子产品 标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验 GB/T4937.5-2006
检测项:稳态湿热 检测样品:电工电子产品 标准:环境试验 第2部分: 试验方法 试验 Z/AD:温度/湿度组合循环试验 GB/T2423.34-2012
检测项:机械冲击 碰撞 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 GB/T2423.15-2008
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>