端淬试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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上海华测先越材料技术有限公司

检测项：部分参数检测样品：碳素工具钢标准：碳素工具钢 GB/T 1298-2008

检测项：部分参数检测样品：合金结构钢标准：合金结构钢 GB/T 3077-1999

检测项：部分参数检测样品：弹簧钢标准：弹簧钢 GB/T 1222-2007

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深圳电气科学研究所（深圳电气科学研究所中心实验室/深圳电气产品质量检测中心）

检测项：部分项目检测样品：光电开关标准：JB/T 6475-1992 光电开关

检测项：部分项目检测样品：光电开关标准：光电开关 JB/T 6475-1992

检测项：部分项目检测样品：双端荧光灯标准：GB 17896-2012 管形荧光灯镇流器能效限定值及能效等级

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：引出端强度检测样品：电子元器件及设备物理性能试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

检测项：引出端强度检测样品：电子元器件及设备物理性能试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4

检测项：输出端源电流Io+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

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浙江省计量科学研究院/浙江省方正校准有限公司

检测项：输出端反射损耗检测样品：交流电测量设备（通用要求）标准：交流电测量设备通用要求、试验和试验条件第11部分:测量设备 GB/T 17215.211-2006 交流电测量设备通用要求、试验和试验条件第11部分:测量设备 IEC 62052-11：2003 交流电测量设备-第1部分：通用要求，试

检测项：近端隔离度检测样品：波分复用器标准：1310/1550nm波分复用器技术要求和测试方法 YD/T 964-1998

检测项：输出端反射损耗检测样品：有线数字电视广播QAM调制器标准：有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法 GY/T 198-2003

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：引出端强度检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法2004.2 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2036 3.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法211

检测项：低温试验检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB150.4A-2009军用设备实验室环境试验方法，第4部分 2.GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验，第2部分试验A

检测项：低气压(高度)试验检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：4.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法1046 5.GB/T2423.17-2008电工电子产品环境试验，第2部分试验Ka

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优力胜邦质量检测（上海）有限公司

检测项：部分项目检测样品：照明设备标准：灯具第1部分:一般要求与试验 GB 7000.1-2007

检测项：部分项目检测样品：照明设备标准：灯具第1部分:一般要求与试验 GB 7000.1-2007

检测项：部分项目检测样品：照明设备标准：灯具：第一部分:通用要求与试验 IEC 60598-1:2008 Ed.7.0 BS EN 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11:2009

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上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心（上海电器产品检测实验室/中国上海进出口玩具检测中心）

检测项：谐波和谐间波检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容(EMC) 第4-13部分:试验和测量技术在交流电源端的谐波和谐间波（包括主要信号）的低频抗扰度试验

检测项：振动试验检测样品：电工电子产品环境试验标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动 (正弦)

检测项：恒定湿热试验检测样品：电工电子产品环境试验标准：电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法

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珠海出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：近端串扰检测样品：电气和电子设备（电磁兼容）标准：电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006 IEC 61000-4-2:2008 EN 61000-4-2:2009

检测项：电源端骚扰电压检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 GB 13837-2012 CISPR 13:2009 EN 55013:2001+ A1:2003+A2:2006

检测项：沙尘试验检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006 IEC 60068-2-68:1994

机构所在地：广东省珠海市更多相关信息>>

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：引出端强度拉力检测样品：发光二极管标准：半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则 GB/T 4937.1-2006

检测项：引出端强度引线弯曲转矩检测样品：整流二极管标准：半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则 GB/T 4937.1-2006

检测项：引出端强度:弯曲检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则 GB/T 4937.1-2006

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：近端串音衰减检测样品：光缆※ 标准：大楼通信综合布线系统第2部分：电缆、光缆技术要求 YD/T 926.2-2009 光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序—衰减GB/T15972.40-2008

检测项：近端串音衰减功率和检测样品：光缆※ 标准：大楼通信综合布线系统第2部分：电缆、光缆技术要求 YD/T 926.2-2009 光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序—衰减GB/T15972.40-2008

检测项：输出端和控制器检测样品：传声器※ 标准：传声器测量方法 GB/T 9401-1988

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上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心（上海电器产品检测实验室/中国上海进出口玩具检测中心）

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