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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:短路电流Isc 检测样品:模拟乘法器 标准:GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:负载侧电涌耐受能力试验 检测样品:信号网络浪涌保护器(SPD) 标准:信号网络浪涌保护器(SPD)技术要求和测试方法 YD/T 1542-2006
检测项:Ⅰ类和Ⅱ类的动作负载性能 检测样品:信号网络浪涌保护器(SPD) 标准:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器测试方法 YD/T 1235.2-2002
检测项:限制电压(采用8/20µs波形测试) 检测样品:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器(SPD) 标准:通信局(站)低压配电系统用电涌保护器测试方法 YD/T 1235.2-2002
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:移动通信终端电源适配器 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法 YD/T 1591-2009
检测项:在短路电流下的性能 检测样品:通信用自动重合闸剩余电流保护器 标准:通信用自动重合闸剩余电流保护器技术条件 YD/T 2346-2011
检测项:近端串扰 检测样品:信号网络浪涌保护器 标准:信号网络浪涌保护器技术要求和测试方法 YD/T 1542-2006
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:电源电流IDD 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:短路电流及内阻水平 检测样品:信号网络浪涌保护器 标准:YD/T1542-2006 信号网络浪涌保护器(SPD) 技术要求和测试方法
检测项:协议测试 检测样品:以太网交换机(三层) 标准:YD/T 1295-2003支持IPv6的路由协议技术要求——开放最短路径优先协议(OSPF)
检测项:ATM相关测试 检测样品:高端路由器 标准:YD/T 1295-2003支持IPv6的路由协议技术要求——开放最短路径优先协议(OSPF)
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:反向截止电流 检测样品:光电耦合器 标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
检测项:电流调整率 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>