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耐候性(Weatherability) 材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。 耐候性 测试方法: 自然气候、室外强化、实验室模拟 耐候性 测试仪器:紫外光耐气候试验箱 查看详情>>
耐候性(Weatherability)
材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。
耐候性测试方法:自然气候、室外强化、实验室模拟
耐候性测试仪器:紫外光耐气候试验箱
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
检测项:基极-发射极 饱和电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章 通用测试方法
检测项:发射极-基极 击穿电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章 通用测试方法
检测项:集电极-基极 击穿电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章 通用测试方法
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:稳压管工作 电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:反向击穿电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:C、E饱和电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:江苏省南京市
机构所在地:山东省青岛市
检测项:工作电压测量试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
检测项:二次电路输出电压测量试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
检测项:工作电压测量试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
机构所在地:江苏省苏州市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:北京市
机构所在地:广东省东莞市