中国航天标准化研究所航天产品可靠性与质量检测试验室

检测项：振动试验 检测样品：军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准：《军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验》 GJB 150.16A-2009

检测项：振动试验 检测样品：军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准：《军用设备环境试验方法 振动试验》 GJB 150.16-1986

检测项：振动试验 检测样品：军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准：《电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦) 》 GB/T 2423.10-2008

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深圳市冠准科技有限公司

检测项：部分项目 检测样品：电工测量和试验用手持探头组件 标准：IEC 61010-031:2002+A1, EN 61010-031:2002+A1, GB 4793.5-2008《测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电工测量和试验用手持探头组件的安全要求》

检测项：部分项目 检测样品：电工测量和试验用手持探头组件 标准：《测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电工测量和试验用手持探头组件的安全要求》 GB 4793.5-2008 IEC 61010-031:2002+A1 EN 61010-031:2002+A1

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：低气压（高度） 试验 检测样品：电工电子产品、军用电子设备 标准：军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB150.2-1986

检测项：低气压（高度） 试验 检测样品：电工电子产品、军用电子设备 标准：军用装备实验室环境试验 方法 低气压（高度）试验GJB150.2A-2009

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