负载输出电压和输出电流检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

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浙江三辰电器有限公司检测中心

检测项：直流电流电压输出误差检测样品：低压直流电源设备标准：《电力工程直流电源设备通用技术条件及安全要求》GB/T19826-2005

检测项：控制母线电压调节功能检测样品：低压直流电源设备标准：《低压直流成套开关设备》 JB/T 8456-2005

检测项：电压调整功能检测样品：低压直流电源设备标准：《电力系统直流电源柜订货技术条件》DL/T 459-2000

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中国舰船研究设计中心检测校准实验室

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：Q/701J352-2010《地电流测试方法》

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：《地电流测试方法》 Q/701J352-2010

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：①GJB152A-97《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》②GJB151A-97《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求》

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贵州振华群英电器有限公司试验检测中心

检测项：输出漏电流检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

检测项：过负载检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

检测项：加速度检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

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中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：输入/输出电压驻波比检测样品：标准：

检测项：标称最大输出功率检测样品：CDMA直放站标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011

检测项：光学和传输特性检测样品：波长段扩展的非色散位移单模光纤（G.652.D) 标准：通信用单模光纤系列第3部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤特性GB/T 9771.3-2008 光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-光纤几何参数 GB/T15972.20-2008 光纤试验方法规范第21部分：尺寸参数的测量方法和

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高低电平电流检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高低电平电压检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出低电平时电源电流ICCL 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：输出漏电流检测样品：延时继电器标准：GJB1513-1992混合和固体延时继电器总规范4.7.7

检测项：操作电流和电压检测样品：射频开关标准：GB/T13416-1992射频传输线（同轴）开关总规范3.5.8

检测项：过负载检测样品：延时继电器标准：GJB1513A-2009混合和固体延时继电器总规范4.7.20

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：负载电流变化瞬态响应时间和负载电流变化瞬态过冲电压检测样品：半导体集成电路模拟乘法器标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理　 GB/T14029-1992

检测项：ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：负载跃变时的输出响应检测样品：混合集成电路标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　 SJ20646-1997

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平时电源电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：负载阶跃变时的输出响应VLOR 检测样品：军用设备和分系统标准：(1)GJB151A-1997《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求》 (2)GJB152A-1997《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 (3)GJB3590-1999《航天系统电磁兼容性要求

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平阈值电压VOHT 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

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中国舰船研究设计中心检测校准实验室

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

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