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妇科采样器械

简介

妇科采样器械

简介

一次性使用无菌宫颈刮板产品描述：由木片、竹片等材料制成的片状器械，无菌提供。

一次性使用无菌宫颈刮板预期用途：用于获取宫颈表面的样本。

一次性使用无菌宫颈刮板品名举例：一次性使用无菌宫颈刮板

一次性使用无菌宫颈刮板管理类别：Ⅱ

刮宫片产品描述：由木片、竹片等材料制成的片状器械，非无菌提供。

刮宫片预期用途：暂无内容

刮宫片品名举例：刮宫片

刮宫片管理类别：Ⅰ

导光宫颈片产品描述：一般由高分子材料制成的片状器械。非无菌提供。

导光宫颈片预期用途：与射光器配套使用，用于临床妇科检查时采样用。

导光宫颈片品名举例：导光宫颈片

导光宫颈片管理类别：Ⅰ

一次性使用宫颈刷产品描述：通常由采样管、杯、盖、拭子等组成。无菌提供。

一次性使用宫颈刷预期用途：
用于样本的收集、运输和储存等。

一次性使用宫颈刷品名举例：一次性使用宫颈刷

一次性使用宫颈刷管理类别：Ⅱ

子宫内膜细胞采样器产品描述：通常由套管、抽拉杆、采样孔、手柄、橡胶环组成。无菌提供。

子宫内膜细胞采样器预期用途：用于采集子宫内膜细胞样品和组织样本。

子宫内膜细胞采样器品名举例：子宫内膜细胞采样器、子宫内膜取样器

子宫内膜细胞采样器管理类别：Ⅱ

妇科采样器械相关标准：
1、YY/T 1521-2017 超声弹性仿组织体模的技术要求
2、YY/T 1480-2016 基于声辐射力的超声弹性成像设备性能试验方法
3、YY/T 0108-2008 超声诊断设备M模式试验方法

收起百科↑ 最近更新：2023年06月26日

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检测项：正向跨导（gfs）检测样品：场效应晶体管标准：GB/T 4586－94《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》

检测项：全项目检测样品：材料(耐热性）标准：GB 5169.5-2008 电工电子产品着火危险试验第五部分：试验火焰针焰试验方法装置、确认试验方法和导则 IEC 60695-11-5:2004 电工电子产品着火危险试验第五部分：试验火焰针焰试验方法装置、确认试验方法和导则

检测项：冲击检测样品：电工电子产品标准：GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向跨导检测样品：场效应晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：正向跨导检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条

检测项：倾斜和摇摆试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度 GB/T 2423.15-2008

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向跨导Gfs 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功能检测样品：模拟开关标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000；

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

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检测项：正向跨导检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：正向跨导检测样品：二极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4023-1997 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：导通电阻检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：小信号短路正向跨导检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：振动检测样品：电子和电气产品标准：GB/T2423.56-2006 电工电子产品环境试验规程第3部分:试验方法:试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则；

检测项：冲击检测样品：电子和电气产品标准：GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验 ,第2部分：试验方法,试验Ea和导则：冲击；

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检测项：跨导检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3475.2

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：跨导检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：GJB128A-1997半导体分立器件试验方法方法3407

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品标准：CB1146.2-1996 船舶设备环境试验与工程导则低温

检测项：环境应力筛选检测样品：电工电子产品标准：CB1146.4-1996 船舶设备环境试验与工程导则湿热

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检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：碰撞检测样品：固定电阻器标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞 GB/T 2423.6-1995

检测项：振动检测样品：电子和电气产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc振动( 正弦) GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动(数字控制)和导则 GB/T 2423.56-2006 军用设备环境试验方法振动试验 G

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

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检测项：扫频振动检测样品：电子元器件及设备机械性能试验标准：3、GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度

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检测项：跨导检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：机械冲击碰撞检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度 GB/T2423.15-2008

检测项：振动检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击 GB/T2423.5-1995

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