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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:垂直弯曲静强度试验 检测样品:半轴 标准:汽车半轴台架试验方法 QC/T 293—1999 汽车半轴技术条件 QC/T 294—1999
检测项:垂直弯曲疲劳寿命试验 检测样品:半轴 标准:汽车半轴台架试验方法 QC/T 293—1999 汽车半轴技术条件 QC/T 294—1999
检测项:静扭强度试验 检测样品:半轴 标准:汽车半轴台架试验方法 QC/T 293—1999 汽车半轴技术条件 QC/T 294—1999
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:半轴扭转疲劳寿命试验 检测样品:半轴 标准:汽车半轴台架试验方法 QC/T 293—1999
检测项:静扭转强度试验 检测样品:半轴 标准:汽车半轴台架试验方法 QC/T 293—1999
检测项:半轴静扭强度试验 检测样品:洗涤电动机 标准:汽车用洗涤电动机技术条件 QC/T 548-1999
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出电压 检测样品:耐压测试仪 标准:SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
检测项:交流输出电压频率 检测样品:耐压测试仪 标准:SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
检测项:交流输出电压失真 检测样品:耐压测试仪 标准:SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项:耐电压 检测样品:电子及电气零组件 标准:电连接器、插座及同轴端子的耐电压测试程序 EIA-364-20D-2008
检测项:瞬断试验 检测样品:电子及电气零组件 标准:电子及电气零组件测试方法 MIL-STD-202G (2002) 测试方法107G
检测项:耐焊接热 检测样品:电子及电气零组件 标准:电子及电气零组件测试方法MIL-STD-202G (2002) 测试方法210F
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:电压(幅度) 检测样品:图示仪 标准:半导体管特性图示仪测试方法 GB/T13974-1992
检测项:频率电压系数 检测样品:频率标准 标准:石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995
检测项:输出电压 检测样品:频率标准 标准:石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:无线电通信设备 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度试验》 GB/T 17626.29-2006 《电磁兼容 第4-29部分:测试和测量技术-直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度试验》 IEC 61000-4-
检测项:电压波动抗扰度 检测样品:电子电器产品 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验》 GB/T 17626.14-2005 《电磁兼容 第4-14部分:测试和测量技术-每相输入电流≤16A设备的电压波动抗扰度试验》 IEC 61000-4-14:2009
检测项:直流电源输入端口纹波抗扰度 检测样品:电子电器产品 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验》 GB/T 17626.17-2005 《电磁兼容 第4-17部分:测试和测量技术-直流电源输入端口纹波抗扰度试验》 IEC 61000-4-17:2009
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:电压调整率 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:开环电压增益 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:电源电压抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值电压 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:集电极-发射极饱和电压VCEsat 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项:基极-发射极饱和电压VBesat 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项:发射极-基极击穿电压V(BR)EBO 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>