您当前的位置:首页 > 输入串扰衰减
检测项:不带安全属性的用户数据输入 检测样品:安全集成电路(IC)卡芯片 标准:信息安全技术 具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求(评估保证级4增强级) GB/T 22186-2008
机构所在地:北京市
机构所在地:安徽省合肥市
检测项:输入功率和电流 检测样品:家用 电器 标准:家用及类似用途电器的安全 第1部分 通用要求 GB 4706.1-1998 GB 4706.1-2005 IEC
检测项:静电放电抗扰度 检测样品:家用电器 标准:家用电器、电动工具和类似器具的要求 第二部分:抗扰度-产品类标准 GB 4343.2-2009 EN 55014-2:1997+A2:2008
检测项:电快速瞬变脉冲群抗扰度 检测样品:家用电器 标准:家用电器、电动工具和类似器具的要求 第二部分:抗扰度-产品类标准 GB 4343.2-2009 EN 55014-2:1997+A2:2008
机构所在地:广东省惠州市
检测项:从TSF控制之外输入 检测样品:信息系统 标准:GB/T18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
机构所在地:四川省成都市
检测项:谐波电流 检测样品:电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012
机构所在地:广东省东莞市
检测项:输入电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市