北京振兴计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：电压调整率 检测样品：DC/DC电源装置 标准：电源变换器测试方法 QJ 1467A－1997

检测项：纹波电压（有效值或峰峰值） 检测样品：DC/DC电源装置 标准：电源变换器测试方法 QJ 1467A－1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：部分参数 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出低电平电压 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中航光电科技股份有限公司试验检测中心

检测项：低电平接触电阻 检测样品：电连接器 标准：GJB1217A-2009 电连接器试验方法/3002

检测项：介质耐电压 检测样品：电连接器 标准：GJB1217A-2009 电连接器试验方法/3001

检测项：接触电阻 检测样品：电连接器 标准：GJB1217A-2009 电连接器试验方法/3004

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

上海无委无线电检测实验室有限公司

检测项：直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：无线电通信设备 标准：《电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度试验》 GB/T 17626.29-2006 《电磁兼容 第4-29部分：测试和测量技术-直流电源输入端口电压暂降 短时中断和电压变化抗扰度试验》 IEC 61000-4-

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：《电磁兼容 第3-2部分：限值-谐波电流辐射(每相输入电流≤16A) 》 IEC 61000-3-2：2009

检测项：电压波动抗扰度 检测样品：电子电器产品 标准：《电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验》 GB/T 17626.14-2005 《电磁兼容 第4-14部分：测试和测量技术-每相输入电流≤16A设备的电压波动抗扰度试验》 IEC 61000-4-14：2009

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

株洲变流技术国家工程研究中心实验中心

检测项：直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：信息技术设备，家用电器，电动工具及类似器具，工、科、医设备 标准：《电磁兼容 试验和测量技术 直流电源 输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.29-2006

检测项：直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：信息技术设备，家用电器，电动工具及类似器具，工、科、医设备 标准：《电磁兼容第4-29部分:试验和测量技术 直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度试验》 EN 61000-4-29:2001

检测项：直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：信息技术设备，家用电器，电动工具及类似器具，工、科、医设备 标准：《电磁兼容第4-29部分:试验和测量技术 直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度试验》 IEC 61000-4-29:2000

机构所在地：湖南省株洲市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输出低电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京航天计量测试技术研究所

检测项：输入短路电压Uo检定 检测样品：脉冲电压表 标准：电子电压表测试方法 GB/T 12116–2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012

检测项：输入电压范围 检测样品：脉冲信号源 标准：脉冲信号发生器技术条件 GB/T 9317-2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012

检测项：设定点 检测样品：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 JB/T 8386.1～.2-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输出低电平电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：低电平输入电流IIL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>