输入偏置电流检测实验

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输入电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

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检测项：输入偏置电流检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：输入偏置电流检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

检测项：输入偏置电流（同相）Ib+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：输入偏置电流（反相）Ib- 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入偏置电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入电流检测样品：晶体振荡器标准：GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范

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检测项：输入偏置电流（同相）IIb+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入偏置电流（反相）IIb- 检测样品：半导体集成电路（电压比较器）标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路

检测项：输入偏置电流（反相）IIb- 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件