上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：输入偏置电流温度系数 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输入电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输入偏置电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入偏置电流温度系数 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>