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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:谐波试验 检测样品:信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准:GB 17625.1:2012低压电气及电子设备发出的谐波电流限制(设备每相输入电流≤16A)
检测项:谐波试验 检测样品:信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准:IEC 61000-3-2:2005+A1:2008 +A2:2009低压电气及电子设备发出的谐波电流限制(设备每相输入电流≤16A)
检测项:谐波试验 检测样品:信息技术设备、通信设备(EMC) 标准:GB 17625.1:2012低压电气及电子设备发出的谐波电流限制(设备每相输入电流≤16A)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:家用电器 标准:家用和类似用途电器安全 第1部分 通用要求 GB4706.1-2005
检测项:冲击试验 检测样品:盐雾试验 标准:金属材料 夏比摆锤冲击试验方法 GB/T 229-2007
机构所在地:江苏省常熟市 更多相关信息>>
检测项:电子单元输入电流 检测样品:工业pH计 标准:工业pH计 JB/T 6203-1992 pH计和离子计试验方法 JB/T 6858-1993
检测项:输入量频率引起的改变量 检测样品:电流变送器 标准:测量、控制和实验用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求GB4793.1-2007
检测项:允许过输入影响 检测样品:电流变送器 标准:测量、控制和实验用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求GB4793.1-2007
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:输入偏置电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:输入电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.9条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室离子计 标准:《实验室离子计》 JB/T 6245-1992 《pH计和离子计试验方法》 JB/T 6858-1993
检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室离子计 标准:实验室离子计 JB/T 6245-1992 pH计和离子计试验方法 JB/T 6858-1993
检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室pH计 标准:《实验室pH计》 GB 11165-2005
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:工频电压耐受试验 检测样品:带电作业器具 标准:DL 976-2005 《带电作业工具、装置和设备预防性试验规程 》
检测项:工频电压耐受试验 检测样品:变压器 标准:GB311.1-1997 《高压输变电设备的绝缘配合》 GB/T16927.1-1997 《高电压试验技术 第一部分:一般试验要求》 GB 50150-2006 《电气装置安装工程 电气设备交接试验标准》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入电流 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法301
检测项:输入电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>