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检测项:场地电压驻波比 检测样品:半电波暗室 标准:无线电骚扰和抗扰度测量设备和方法规范 第1部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 第4分部分:辅助设备-辐射骚扰度 CISPR 16-1-4: Ed2.1 2008-01
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:场地电压驻波比 检测样品:洁净台、洁净厂房 标准:CISPR16-1-4:2010 ED3.0 无线电骚扰和抗扰度测量设备和方法规范——部分1-4:无线电骚扰和抗扰度测量设备-附属设备-辐射抗扰度
检测项:交流电压 检测样品: 标准:
检测项:电压 检测样品:基准镇流器 标准:GB/T 14044-2008管型荧光灯用镇流器性能要求
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:场地电压驻波比(SVSWR) 检测样品:半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAC) 标准:GB/T 6113.104-2008,CISPR 16-1-4:2010,ANSI C63.4-2009 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分: 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰.
检测项:电源输入线上的电压暂降、短时中断和电压变化 检测样品:车辆、船和由内燃机驱动的装置 标准:GB 14023-2011,CISPR 12:2009,BS EN 55012:2007车辆、船和由内燃机驱动的装置无线电骚扰特性限值和测量方法.
检测项:直流电源输入端口的电压瞬降和短时中断试验 检测样品:信息技术设备、电视和声音信号电缆分配系统、声音和电视广播接收机及有关设备、家用和类似用途电动电热器具、电动工具以及类似电器、工业 标准:GB/T 17626.29-2006,IEC 61000-4-29:2000,BS EN 61000-4-29:2001 :电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时 中断和电压变化的抗扰度试验.
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:电压驻波比 检测样品:移动通信基站天线 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008 移动通信系统基站天线技术条件YD/T 1059-2004
检测项:场地电压驻波比 检测样品:电磁屏蔽室、半电波暗室 标准:CISPR16-1-4:2010《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰》
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 检测样品:电子电工产品、工业科学和医疗设备 标准:GB/T 17626.11-2008 《电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》
检测项:电源端子骚扰电压 检测样品:照明灯具 标准:GB 17743-2007 《电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法》
检测项:直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:信息技术设备,家用电器,电动工具及类似器具,工、科、医设备 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 直流电源 输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.29-2006
检测项:直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:信息技术设备,家用电器,电动工具及类似器具,工、科、医设备 标准:《电磁兼容第4-29部分:试验和测量技术 直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度试验》 EN 61000-4-29:2001
检测项:直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:信息技术设备,家用电器,电动工具及类似器具,工、科、医设备 标准:《电磁兼容第4-29部分:试验和测量技术 直流输入电源端电压跌落、短时中断和电压变化抗扰度试验》 IEC 61000-4-29:2000
机构所在地:湖南省株洲市 更多相关信息>>
检测项:输入短路电压Uo检定 检测样品:脉冲电压表 标准:电子电压表测试方法 GB/T 12116–2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:输入电压范围 检测样品:脉冲信号源 标准:脉冲信号发生器技术条件 GB/T 9317-2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:设定点 检测样品:工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 标准:工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 JB/T 8386.1~.2-1996
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平 电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>