北京银联金卡科技有限公司/银行卡检测中心

检测项：环境和操作条件改变的适应性 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：

检测项：PIN输入过程中监控 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：

检测项：输入PIN区别 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

华为技术有限公司可靠性实验室

检测项：通信设备电源输入性能 检测样品：信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准：YD1082 :2011 接入网设备过电压过电流防护及基本环境适应性技术条件

检测项：雷击试验 检测样品：信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准：YD1082 :2011 接入网设备过电压过电流防护及基本环境适应性技术条件

检测项：通信设备电源输入性能 检测样品：信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准：ETSI EN 300 132-2 V2.4.6:2011 环境工程(EE);通信设备电源输入端口;第二部分:直流供电

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙HFP1.5测试规范 V1.5.10

检测项：EDR 最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙PBAP测试规范 V1.0.5

检测项：高输入电平下的误码率 检测样品：无线寻呼系统 标准：GB/T15938-1995《无线寻呼系统设备总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

国家无线电频谱管理研究所无线电设备检测实验室

检测项：最大允许 输入电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：静态参考灵敏度电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：多径参考灵敏度电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>