西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出低电平电源电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平时电源电流ICCL 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：D/A数字输入低电平电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：输出低电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输出低电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出低电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出低电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电源电流ICCL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出低电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平 电源电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平 电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：低电平输出电流IOL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377－1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

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