沈阳机床（集团）有限责任公司设计研究院机床实验室

检测项：定位精度 检测样品：金属切削机床 标准：机床检验通则 第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

检测项：重复定位精度 检测样品：金属切削机床 标准：精密加工中心检验条件 第1部分：卧式和带附加主轴头机床几何精度检验（水平Z轴） GB/T 20957.1-2007

检测项：两轴联动轨迹精度 检测样品：金属切削机床 标准：机床试验规范 第4部分：数控机床的循环试验 ISO 230-4-2005

机构所在地： 更多相关信息>>

深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：射频测试/应用于25MHz至3GHz频率范围的无线麦克风 标准：电磁兼容和无线电频谱事务(ERM); 应用于25MHz至3GHz频率范围的无线麦克风; 第一部分:技术参数和测试方法 EN 300 422-1V1.4.2 (2011-08) 第二部分: 欧盟统一基本要求涵盖欧洲无线电/电信终端设备指令第3.2 章节 ET

检测项：电压跌落、中断及电压变化抗扰度 检测样品：电磁兼容/信息技术设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 EN 61000-4-11:2004 IEC 61000-4-11: 2004 GB/T 17626.11-2008

检测项：电压变化、波动和闪烁 检测样品：电磁兼容 (工业、科学、医疗设备) 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流小于或等于16A且无条件接入的设备在公用低电压供电系统中产生的电压变化.电压波动和闪烁 EN61000-3-3：2008 IEC61000-3-3：2008 GB17625.2-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

西安航天计量测试研究所

检测项：重复定位精度 检测样品：数控机床 标准：机床检验通则 第1部分在无负荷或精加工条件下机床的几何精度 ISO 230-1-1996 机床检验通则 第2部分数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

检测项：回转轴分度精度 检测样品：数控机床 标准：机床检验通则 第1部分在无负荷或精加工条件下机床的几何精度 ISO 230-1-1996 机床检验通则 第2部分数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

检测项：重复定位精度 检测样品：数控机床 标准：机床检验通则 第1部分在无负荷或精加工条件下机床的几何精度 GB/T17421.1-1998（等同于ISO 230-1-1996） 机床检验通则 第2部分数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

西安北方光电科技防务有限公司计量检测中心

检测项：回转轴分度精度 检测样品：数控 机床 标准：GB/T17421.1-1998 机床检验通则 第1部分 在无负荷或精加工条件下机床的几何精度GB/T 17421.2-2000 机床检验通则 第2部分 数控机床轴线的定位精度和重复定位精度的确定

检测项：控温精度 检测样品： 标准：

检测项：回转轴分度精度 检测样品：数控 机床 标准：GB/T17421.1-1998 机床检验通则 第1部分 在无负荷或精加工条件下机床的几何精度GB/T 17421.2-2000 机床检验通则 第2部分 数控机床轴线的定位精度和重复定位精度的确定

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京新世纪检验认证有限公司

检测项：装配精度与整形要求 检测样品： 标准：

检测项：装配精度与整形要求 检测样品：机动车驾驶员专用眼镜 标准：机动车驾驶员专用眼镜QB2659-2004

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：低压电气设备及电子设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2013 EN 61000-3-3:2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

常州华阳光伏检测技术有限公司

检测项：跟踪精度测试 检测样品： 标准：

检测项：耐电压值 检测样品：铜 带 标准：GB/T 1695-2005硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法

检测项：表面电阻 检测样品：铜 带 标准：GB/T 1695-2005硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

江苏东方航天校准检测有限公司

检测项：轴线重复定位精度 检测样品：机床 标准：机床检验通则 第一部分：在无负荷和精加工条件下机床的几何精度 GB/T 17421.1-1998 机床检验通则 第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

检测项：盐雾沉降率 检测样品：机床 标准：机床检验通则 第一部分：在无负荷和精加工条件下机床的几何精度 GB/T 17421.1-1998 机床检验通则 第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定 GB/T 17421.2-2000

检测项：轴线定位精度 检测样品： 标准：

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 EN 55013: 2001+A1+A2

检测项：部分项目 检测样品：影音产品 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 CISPR13：2001+A1 CISPR13：2006（EN 55013：2001+A1）

检测项：全项目 检测样品： 标准：试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 IEC61000-4-11:1994+A1 EN 61000-4-11:1994+A1 IEC61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004

机构所在地： 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

东莞市凯威检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：应急照明灯具 标准：灯具 第2部分 特殊要求 应急照明灯具 GB 7000.2-2008 IEC 60598-2-22:1997+A1:2002+A2:2008 EN 60598-2-22:1998+A1:2003+A2:2008 AS/NZS 60598.2.22:200

检测项：全部项目 检测样品：外置电源/电池充电器 标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2007

检测项：全部项目 检测样品：外置电源/电池充电器 标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 (EC) No. 278/2009 (DIRECTIVE 2009/125/EC)

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>