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防龋材料产品描述:一般采用树脂基材料或含氟材料制成。 防龋材料预期用途:用于预防龋齿,封闭牙齿窝沟点隙,阻断细菌进入,或提高牙齿釉质的耐酸蚀性。 防龋材料品名举例:氟保护剂、氟保护漆、氟化泡沫、氟防龋材料、防龋凝胶、光固化窝沟封闭剂、窝沟封闭剂、牙科树脂基窝沟封闭剂 防龋材料管理类别:Ⅱ 防龋材料相关指导原则: 1、窝沟封闭剂产品注...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年06月12日
检测项:全部项目 检测样品:过电流保护电器 标准:低压开关设备和控制设备 过电流保护电器 第1部分:短路定额的应用GB/Z 25842.1-2010
检测项:短路保护 检测样品:船用电气电子设备 标准:中国船级社 电气电子产品型式认可试验指南 GD01-2006
检测项:短路和过载保护 检测样品:安全隔离变压器 标准:电源电压为1100V及以下的变压器、电抗器、电源装置和类似产品的安全 第7部分:安全隔离变压器和内装安全隔离变压器的电源装置的特殊要求和试验 GB19212.7-2012/IEC61558-2-6:2009
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:区内外经过渡电阻短路 检测样品:母线保护装置 标准:微机母线保护装置通用技术条件DL/T 670-2010
检测项:记录数据的输出及传送功能检查 检测样品:继电保护测试装置 标准:继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010
检测项:保护区内外金属性故障 检测样品:母线保护装置 标准:微机母线保护装置通用技术条件DL/T 670-2010
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项:小信号短路正向跨导gfs 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:极限短路电流(基准部分)IOS 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项:输出低电平(输出部分)VOL 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:短路正向跨导gfs 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:短路保护试验 检测样品:滤波器 标准:GB7343-1987《10kHz~30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法》
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出短路电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:(运算放大器)短路输出电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000