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单/多部件可吸收骨固定器械产品描述:一般采用聚乳酸或其共聚物、复合材料等制成。 单/多部件可吸收骨固定器预期用途:用于非承重部位的骨折内固定术、截骨术、关节融合术中骨折部位的固定。 单/多部件可吸收骨固定器品名举例:可吸收接骨螺钉、可吸收接骨板、可吸收接骨棒、可吸收板钉系统 单/多部件可吸收骨固定器管理类别:Ⅲ 单/多部件可吸收骨固定器相关...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月30日
检测项:光伏阵列输出电流和电压值 检测样品:独立光伏 系统 标准:独立光伏系统-设计验证IEC 62124:2004
检测项:光伏阵列输出电流和电压值 检测样品:便携式太阳灯 标准:便携式太阳光伏灯设计鉴定和定型 PVRS 11A 2008-02
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:输入电压变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:短时过电流影响 检测样品:电子式电能表 标准:GB/T17215.211—2006 《交流电测量设备 通用要求 试验和试验条件 第11部分:测量设备》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出漏电流 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
检测项:引出端强度试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009
检测项:引出端强度 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器总技术条件》 SJ891-1974
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出电流和功率 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项:满负载输出电流 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项:最大输出电压 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 6.2
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法 GB/T21246-2007 6.2
检测项:管内电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 7.0
机构所在地:河北省廊坊市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:低电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:电源端传导骚扰 检测样品:电信设备 标准:数字用户线(xDSL)设备电磁兼容性要求和测量方法 YD/T1244-2002
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电子式绝缘电阻表 标准:《电阻测量装置通用技术条件第1部分:电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
检测项:短时电流试验 检测样品:电子式电流互感器(传感器) 标准:《互感器 第8部分: 电子式电流互感器》GB/T20840.8-2007 《互感器 第8部分: 电子式电流互感器》IEC60044-8:2002
检测项:电磁兼容试验(EMC) 检测样品:电流互感器 标准:《电流互感器》 GB1208-2006 《电力用电流互感器订货技术条件》 DL/T725-2000 《互感器 第1部分:电流互感器》 IEC60044-1:2003
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>