输出频率测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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国网四川省电力公司电力科学研究院

检测项：长期低电压、长期低频率记录能力检查检测样品：继电保护测试装置标准：继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010

检测项：记录数据的输出及传送功能检查检测样品：继电保护测试装置标准：继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010

检测项：系统频率偏移检测样品：母线保护装置标准：微机母线保护装置通用技术条件DL/T 670-2010

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上海半导体照明工程技术研究中心检测实验室

检测项：频率检测样品：LED投光照明灯具标准：GB/T 7002-2008 投光灯照明灯具光度测试

检测项：频率检测样品：LED投光照明灯具标准：GB/T 7002-2008 投光灯照明灯具光度测试

检测项：正弦振动检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.10-2008 IEC 60068-2-6: 1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

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中国飞机强度研究所力学性能评定与测试中心

检测项：拉伸性能检测样品：金属和金属制品标准：纤维增强塑料层合板拉-拉疲劳性能试验方法 GB/T 16779-2008

检测项：拉伸性能检测样品：金属和金属制品标准：纤维增强塑料层合板拉-拉疲劳性能试验方法 GB/T 16779-2008

检测项：疲劳性能检测样品：金属和金属制品标准：聚合物基复合材料拉-拉疲劳标准试验方法ASTM D 3479/D 3479M-96(07)

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：最高时钟频率检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第6.5条

检测项：输出高电平电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条

检测项：输出低电平电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 第5.8条

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：频率值检测样品：晶振标准：GJB1648A-2011 晶体振荡器通用规范 GJB2138-94 石英晶体元件总规范 GJB/Z45.1-93 军用压电器件系列型谱石英晶体元件

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：辐射发射检测样品：短距离设备标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；短距离设备；频率范围从25MHz至1000MHz，最大功率小于500mW的无线设备；第一部分：技术特性和测试方法 ETSI EN 300220-1 V2.4.1

检测项：辐射发射检测样品：短距离设备标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；短距离设备；工作频段在1GHz至40GHz范围的无线设备第一部分：技术特性和测试方法 ETSI EN 300440-1 V1.6.1

检测项：辐射发射检测样品：短距离设备标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；无线音频设备，工作频段25MHz至2000MHz 第一部分：技术特性和测试方法 ETSI EN 301357-1 V1.4.1 (2008-11)

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成都电气检验所/成都三方电气有限公司

检测项：电压输出速率检测样品：回路电阻测试仪标准：《回路电阻测试仪与直流电阻快速测试仪检定规程》DL/T967-2005

检测项：电磁兼容项目检测样品：电工电子产品标准：电磁兼容通用标准工业环境中的抗扰度试验 GB/T17799.2-2003 IEC 61000-6-2:2005 EN 61000-6-2:2005

检测项：射频电磁场检测样品：电工电子产品标准：电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.3:2006 IEC 61000-4-3:2010 EN 61000-4-3:2006 GR-1089-CORE Issue 4 Section 3.3

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中国电子科技集团公司第十四研究所计量测试中心

检测项：频率误差检测样品：移动通信直放站标准：900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信直放站技术要求和测试方法 YD/T1337-2005

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A－1997 电磁干扰特性测量 MIL-STD-462D 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL-STD-461D

检测项：电压暂降和短时中断检测样品：标准：

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中国包装科研测试中心

检测项：振动试验检测样品：运输包装（参数）标准：《船运集装箱振动测试的试验方法》 ASTM D999-2008

检测项：全部项目检测样品：家具包装标准：《家具包装能力测试》 Item 181（2011）

检测项：全部项目检测样品：FedEx运输包装件标准：《FedEx运输包装测试程序》(2008)

机构所在地：天津市更多相关信息>>

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金发科技股份有限公司分析测试中心

检测项：耐电压测试检测样品：电绝缘材料标准：在工业用电频率时实心电绝缘材料的介电击穿电压与介电强度的试验方法ASTM D149：2009（2013）

检测项：冲击强度检测样品：塑料标准：悬臂梁冲击测试标准试验方法 ASTM D256-2010

检测项：弯曲性能检测样品：塑料标准：塑料和电子绝缘材料洛氏硬度标准测试方法ASTM D785-2008

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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