陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：（运算放大器）短路输出电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：（运算放大器）短路输出电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：集电极-基极击穿电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：高电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：漏极截止电流IDSS 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：频率稳定度 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：金属外壳绝缘 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：输入失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：门极触发电压Vgt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：通态直流电压Vt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：开路断态电流Ido 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>