金属导体电阻率试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：25℃下的静态试验检测样品：半导体集成电路标准：半导体机械和气候试验方法GB/T4937-1995 方法5b

检测项：引线试验检测样品：半导体集成电路外壳标准：半导体集成电路外壳总规范 GJB1420A-1999 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

检测项：高温试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997 方法2056、2057

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湖北信通通信有限公司计量检测中心

检测项：导体直流电阻检测样品：电话网用户铜芯室内线标准：《电线电缆电性能试验方法第4部分：导体直流电阻试验》GB/T3048.4-2007 《电话网用户铜芯室内线》YD/T840-1996

检测项：内导体结构尺寸检测样品：通信电缆-无线通信用50Ω泡沫聚乙烯绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆标准：《裸电线试验方法第2部分：尺寸测量》GB/T4909.2-2009 《通信电缆-无线通信用50Ω泡沫聚烯烃绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆》YD/T1092-2013

检测项：导体最大直流电阻检测样品：通信电源用阻燃耐火软电缆标准：《电线电缆电性能试验方法第4部分：导体直流电阻试验》GB/T3048.4-2007 《通信电源用阻燃耐火软电缆》YD/T1173-2010

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神华神东煤炭集团有限责任公司设备管理中心检测实验室

检测项：导体直流电阻检测样品：电线电缆标准：电线电缆电性能试验方法第4部分：导体直流电阻试验 GB/T 3048.4-2007

检测项：反复弯曲试验检测样品：金属及金属材料标准：金属材料线材反复弯曲试验方法 GB/T 238-2002

检测项：扭转试验检测样品：金属及金属材料标准：金属材料线材第1部分：单向扭转试验方法 GB/T 239.1-2012

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：湿热试验检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

检测项：静电放电抗扰度试验检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

检测项：湿热试验检测样品：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件第2部分：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.2-2007

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：绝缘电阻检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：耐电压检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：电源电压抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输出高电平电压检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

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烟台出入境检验检疫局检验检疫技术中心（烟台检验检疫技术发展中心）

检测项：铯-137 检测样品：金属与合金标准：用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法GB/T11713-1989

检测项：钍-232 检测样品：金属与合金标准：用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989

检测项：钾-40 检测样品：金属与合金标准：用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989

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江苏出入境检验检疫局工业产品检测中心化矿金属材料实验室

检测项：石棉检测样品：建筑材料标准：用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB 11713-89

检测项：内照射指数检测样品：波特兰水泥标准：透气仪测定水硬性水泥细度试验方法 ASTM C204-2011 方法A

检测项：外照射指数检测样品：波特兰水泥标准：透气仪测定水硬性水泥细度试验方法 ASTM C204-2011 方法A

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：正向压降检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：通态漏极电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：GJB128A-1997半导体分立器件试验方法方法3407

检测项：漏-源通态电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：GJB128A-1997半导体分立器件试验方法方法3407

检测项：跨导检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：GJB128A-1997半导体分立器件试验方法方法3407

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