铜层厚度检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

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镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能试验第5部分：厚度测定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法
GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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检测项：C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、W、Mo、V、Al、Ti、Cu、Nb、Co、B、As、Sn 检测样品：碳素钢及中低合金钢标准：碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法（常规法） GB/T 4336-2002

检测项：C、S、P、Si、Mn、Cr、Ni、Ti、Al、W、Cu、Mo 检测样品：不锈钢标准：不锈钢多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法（常规法） GB /T 11170-2008

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检测项：Ti*, Al*, Si*, Mn*, P*, Cu* 检测样品：钒铁标准：钛铁化学成分含量的测定波长色散X射线荧光光谱法 QJ/GY 4.094－2007

检测项：铜** 检测样品：钛及钛合金标准：海绵钛、钛及钛合金化学分析方法铜试剂分光光度法测定铜量 GB/T 4698.1-1996

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检测项：C、S、P、Si、Mn、Cr、Ni、Mo、Ti、Al、Cu、W、Nb、V、Co、B、Sn、Pb、Zr 检测样品：金属材料标准：碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法（常规法） GB/T 4336-2002

检测项：C、S、P、Si、Mn、Cr、Ni、Mo、Ti、Al、Cu、W、Nb、V、Co、B、Sn、Pb、Zr 检测样品：金属材料标准：不锈钢多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法（常规法） GB/T11170-2008

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检测项：Cr, Sb, Ba, As, Se, Al, Be, Co, Cu, Fe, Mg, Mo, Ni, K, Si, Ag, Na Sn, Zn 检测样品：电子电气产品中有毒有害物质标准：US EPA 6010C:2007 电感耦合等离子体原子发射光谱法

检测项：Cr, Sb, Ba, As, Se, Al, Be, Co, Cu, Fe, Mg, Mo, Ni, K, Si, Ag, Na Sn, Zn 检测样品：电子电气产品中有毒有害物质标准：US EPA 6010C:2007 电感耦合等离子体原子发射光谱法

检测项：Cr, Sb, Ba, As, Se, Al, Be, Co, Cu, Fe, Mg, Mo, Ni, K, Si, Ag, Na Sn, Zn 检测样品：电子电气产品中有毒有害物质标准：US EPA 3052:1996 含硅和有机基体材料的微波辅助酸消解法

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检测项：铜检测样品：食品标准：食品中铜的测定 GB/T 5009.13-2003

检测项：铜量检测样品：铜精矿标准：铜精矿化学分析方法铜量的测定 GB/T 3884.1-2000 进出口铜精矿化学分析方法碘量法测定铜量 SN/T0487-1995

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检测项：C、Mn、Si、Cr、Ni、W、Mo、Al、Ti、Cu 检测样品：金属材料及制品标准：不锈钢多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法(常规法) GB/T 11170-2008

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检测项：Cu 检测样品：铝和铝合金标准：GB/T 20125-2006低合金钢　多元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

检测项：脱碳层深度检测样品：金属与合金标准：GB224-2008钢的脱碳层深度测定法

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检测项：C、S、P、Mn、Si、Cr、Ni、W、Mo、V、Ti、Cu、Al、Nb、Co、B、As、Sn 检测样品：标准：不锈钢多元素含量测定火花放电原子发射光谱法（常规法） GB/T 11170-2008

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