上海华测品标检测技术有限公司

检测项：硅 检测样品：工作场所空气 标准：硅的测定 硅钼蓝分光光度法 NIOSH 7601-2003

检测项：全硅 检测样品：水、废水 标准：工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定 GB/T 12149-2007

检测项：有效硅 检测样品：土壤、底泥、沉积物 标准：土壤检测 第15部分：土壤有效硅的测定 NY/T 1121.15-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西安天宙矿业科技开发有限责任公司测试中心

检测项：硅 检测样品：硅酸盐 标准：铁矿石 硅含量的测定 硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法 GB/T 6730.9-2006

检测项：磷 检测样品：硅酸盐 标准：铁矿石化学分析方法 重量法测定硅量 GB/T 6730.10-1986

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

玉溪晨兴矿冶科技开发有限公司检测中心

检测项：硅 检测样品：铁矿石 标准：GB /T 6730.9-2006 铁矿石 硅含量的测定 硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法

检测项：硅 检测样品：铁矿石 标准：GB/T 6730.9-2006 铁矿石 硅含量的测定 硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法

机构所在地：云南省玉溪市 更多相关信息>>

玉溪大红山矿业有限公司理化实验室

检测项：硅 检测样品：铜矿石 标准：铁矿石 硅含量的测定 硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法 GB/T 6730.9-2006

机构所在地：云南省玉溪市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

山东晨阳碳素股份有限公司济宁碳素工业总公司研究所

检测项：S、V、Ni、Si、Fe、Na、Ca、Ti 检测样品：铝用炭阳极 标准：铝用碳素材料检测方法 第10部分 空气渗透率的测定 YS/T 63.10-2012

检测项：S、V、Ni、Si、Fe、Na、Ca、Ti 检测样品：铝用炭阳极 标准：铝用碳素材料—微量元素的测定 X—射线荧光光谱分析方法 ISO 12980：2000

检测项：S、V、Ni、Si、Fe、Na、Ca、Ti 检测样品：铝用炭阳极 标准：铝用碳素材料检测方法 第16部分 微量元素的测定 X—射线荧光光谱分析方法 YS/T 63.16-2006

机构所在地：山东省济宁市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：电流调整率（SI） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：电容值(CR) 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：负载调整率(SI) 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

上海华东电信研究院

检测项：安全用户平面 检测样品：移动业务终端 标准：OMA-ETS-SUPL V1.0 安全用户平面业务引擎测试规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海市闵行区疾病预防控制中心（上海市闵行区卫生检验所）

检测项：三价铬和六价铬 检测样品：工作 场所 标准：工作场所空气有毒物质测定 铬及其化合物 GBZ/T 160.7-2004

检测项：铬 检测样品：工作 场所 标准：工作场所空气有毒物质测定 铬及其化合物 GBZ/T 160.7-2004

检测项：铬酸盐 检测样品：工作 场所 标准：工作场所空气有毒物质测定 铬及其化合物 GBZ/T 160.7-2004

机构所在地：上海市 更多相关信息>>