锂电池反向电流测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索条件所在地区: 所属类别:

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：二极管电特性测试检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：最大线圈电流检测样品：继电器、接触器标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

检测项：最大线圈电流检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标）标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

机构所在地：贵州省遵义市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：结温 (Tj) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：漏极反向电流检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

检测项：漏极反向电流检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3415.1

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法4016.4

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：反向电流检测样品：光电耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流检测样品：耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流检测样品：二极管标准：GB/T6571-1995　半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条第Ⅳ章第2节2.1条第Ⅳ章第2节2.2条

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
贵州航天计量测试技术研究所

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T 6571-1995 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管》GB/T 4023-1997

检测项：反向电流IR 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：轴线的反向差值检测样品：环境试验设备标准：《电工电子产品环境试验设备基本检验方法　温度试验设备》GB/T 5170.2-2008

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：反向电流检测样品：发光二极管（LED）标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电压检测样品：发光二极管（LED）标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：泄漏电流检测样品：防静电工作区标准：GJB3007A-2009《防静电工作区技术要求》、SJ/T 10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》

机构所在地：吉林省长春市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
广东省电子电器产品监督检验所

检测项：反向电流检测样品：发光二极管标准：半导体分立和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向峰值电流检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：谐波电流检测样品：额定电流不大于16A的设备 (单相设备) 标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2 Ed 3.2 (2005) +A1:2008 +A2:2009 EN 61000-3-2:2006 +A1:2009+A2:2009

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向截止电流检测样品：晶振标准：GJB1648A-2011 晶体振荡器通用规范 GJB2138-94 石英晶体元件总规范 GJB/Z45.1-93 军用压电器件系列型谱石英晶体元件

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体器件分立器件 -第3部分信号（包括开关）和稳压二极管 IEC 60747-3-1985

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

贵州航天计量测试技术研究所

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

广东省电子电器产品监督检验所

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

中兴通讯股份有限公司材料实验室

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务