您当前的位置:首页 > 键合强度(破坏性键合拉力试验)
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:下屈服强度 检测样品:金属材料 标准:金属材料拉伸试验 第一部分:室温拉伸试验方法GB/T228.1-2010
检测项:抗拉强度 检测样品:金属材料 标准:金属材料拉伸试验 第一部分:室温拉伸试验方法GB/T228.1-2010
机构所在地:
检测项:室温抗拉强度试验 检测样品:煤及煤灰 标准:金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法GB/T228.1-2010
检测项:室温抗拉强度试验 检测样品:煤及煤灰 标准:金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法GB/T228.1-2010
机构所在地:河南省郑州市
检测项:引出端强度 拉力 检测样品:发光二极管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
检测项:拉力 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
检测项:引出端强度引线弯曲转矩 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:浙江省杭州市