机动车中车门、门锁、门铰链、四门两盖、白车身的检测

检测项：车门、门锁、门铰链、四门两盖、白车身 检测样品：机动车 标准：

检测机构：苏州华碧微科检测技术有限公司 更多相关信息>>

模拟集成电路中触发电流ITR的检测

检测项：触发电流ITR 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1993

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

油品中击穿电压的检测

检测项：击穿电压 检测样品：油品 标准：GB/T 507-2002(2004) 绝缘油击穿电压测定法

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电压比较器中输入失调电流的检测

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T 6798-1996

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

换位导线中耐直流电压的检测

检测项：耐直流电压 检测样品：换位导线 标准：JB/T 6758.1-2007《换位导线 第1部分：一般规定》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>

复合材料中干固体绝缘材料耐电弧的检测

检测项：干固体绝缘材料耐电弧 检测样品：复合材料 标准：GB/T1411-2002/IEC61621:1997《干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心 更多相关信息>>

信息技术设备中电压波动和闪烁的检测

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极不触发电压/电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极触发电流/电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：门极触发电流和（或）电压（IGT、VGT） 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：门极触发电流Igt 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：门极触发电压Vgt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>