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检测项:限电流电路 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的安全IEC60950-1: 2005+A1:2009 EN 60950-1: 2006+A11: 2009+A1: 2010+A12: 2011 GB4943-2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:阈值 检测样品:微加速度传感器 标准:单轴摆式伺服线加速度计试验方法 GJB 1037A-2004
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:阈值电流IT 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
检测项:反射电平 检测样品:微波暗室 标准:《微波暗室性能测试方法》GJB6780-2009
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:阈值电压VT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:阈值电流IT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:阈值电压 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:阈值电流 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:臭 检测样品:水(含大气降水)和废水 标准:臭阈值法《水和废水监测分析方法》(第四版增补版)国家环保总局(2002)
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>
检测项:臭和味 检测样品:水和废水 标准:文字描述法、臭阈值法 《水和废水监测分析方法》(第四版、增补版P89)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:栅源阈值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项:阈值电流 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:嗅 检测样品:水 (污水除外) 标准:美国公共健康协会、美国水工作协会《水和废水标准检验法》(2012),22版,2150B:嗅阈值法
检测项:味 检测样品:水 (污水除外) 标准:美国公共健康协会、美国水工作协会《水和废水标准检验法》(2012),22版,2160B:味阈值法
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入负向阈值电压VIT- 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000