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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:流量系数和流阻系数 检测样品:阀门 标准:《通用阀门 流量系数和流阻系数的试验方法》 JB/T 5296-1991
检测项:流阻系数 检测样品:阀门 标准:《阀门——以水为介质的流量流阻试验》 BS EN 1267-2012
检测项:壳体密封 检测样品:阀门 标准:《通用阀门 流量系数和流阻系数的试验方法》 JB/T 5296-1991
机构所在地:浙江省温州市 更多相关信息>>
检测项:流量系数和流阻系数 检测样品:阀门 标准:JB/T 5296-1991《通用阀门 流量系数和流阻系数试验方法》
检测项:壳体试验 检测样品:阀门 标准:GB/T 13927-2008《工业阀门 压力试验》 JB/T 9092-1999《阀门的检验与试验》 API 598-2009《阀门检查与试验》 BS EN 12266.1-2012《工业阀门-压力试验 第1部分 压力试验,试验程序和接受准则 –
检测项:上密封试验 检测样品:阀门 标准:GB/T 13927-2008《工业阀门 压力试验》 JB/T 9092-1999《阀门的检验与试验》 API 598-2009《阀门检查与试验》 BS EN 12266.2-2012《工业阀门-压力试验 第2部分 试验,试验程序和接受准则 – 附加
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:耐湿性及绝缘电阻 检测样品:PCB/PCBA印制板检测 标准:阻焊膜的吸湿性和绝缘电阻 IPC-TM-650 2.6.3.1(E版本2007-3)
检测项:表面绝缘电阻 检测样品:电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准:IPC-TM-650-2.6.3.1E聚合物阻焊剂耐湿性与绝缘电阻
检测项:电流谐波 检测样品:医用电气设备 标准:医用电气设备 第1-2部分: 安全通用要求 并列标准:电磁兼容 要求和试验 YY 0505-2005 IEC/EN 60601-1-2:2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:保温性 检测样品:纺织品 标准:纺织品 生理舒适性稳态条件下 热阻和湿阻的测定 GB/T 11048-2008/B法
检测项:抗表面 沾湿性 检测样品:纺织品 标准:纺织品 表面抗湿性测定(沾水试验)GB/T 4745-2012
检测项:织物绒 毛保持性 检测样品:纺织品 标准:机织物和针织物绒毛保持性试验方法(引张试验法)JIS L 1075:2007/8.1B
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出低阻态时低电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输出高阻态电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高阻态电流 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998