阻水带/纱检测实验

凡士林纱布

简介

凡士林纱布

简介

隔离敷料产品描述：通常由起隔离作用的网状材料或由织物浸渍油性物质（如凡士林、石蜡）制成。无菌提供，一次性使用。

隔离敷料预期用途：用于创面组织之间、创面与其他敷料之间的隔离，例如烧伤、烫伤、需要引流的渗液型伤口、皮肤移植的供皮区和植皮区。

隔离敷料品名举例：凡士林纱布、凡士林纱布条、油纱布、羊毛脂醇油纱、水胶体油纱、聚硅酮敷料

隔离敷料管理类别：Ⅲ

隔离敷料相关指导原则：
1、凡士林纱布产品注册技术审查指导原则

隔离敷料相关检测项目：
1 . 外观《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
2 . 材料《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
3 . 纤维鉴别-棉纤维《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
4 . 纤维鉴别-粘胶纤维《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
5 . 纤维鉴别-棉和粘胶混纺《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
6 . 酸碱度《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
7 . 每10cm的纱线数《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
8 . 单位面积质量《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
9 . 醚中可溶物《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
10 . 无菌《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》
11 . 生物相容性《接触性创面敷料第1部分：凡士林纱布 YY/T 1293.1-2016》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月14日

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：稳态热阻检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3161.1

检测项：稳态热阻检测样品：晶闸管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3136

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

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珠海联邦制药股份有限公司质检中心

检测项：有关物质检测样品：标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：全部参数检测样品：气动调节阀标准：气动调节阀GB/T 4213-2008 工业阀门压力试验GB/T 13927-2008 工业过程控制系统用气动长行程执行机构JB/T 5223-91 阀门的检验与试验JB/T 9092-1999 通用阀门流量系数和流阻系数的试验方法JB/T 5296-

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

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检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

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检测项：全部参数检测样品：低温容器的绝热材料标准：《粉尘物性试验方法》GB/T 16913-2008 《低温装置绝热用膨胀珍珠岩》JC/T 1020-2007 《绝热材料稳态热阻及有关特性的测定-热流计法》GB 10295-2008 《纤维增强塑料导热系数试验方法》 GB/T 3139-2005

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS 集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS 集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

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检测项：*部分项目检测样品：光缆标准：光缆第1-2部分：总规范光缆基本试验规程 IEC 60794-1-2-2003

检测项：*部分项目检测样品：光缆标准：光缆第3部分：管道光缆、直埋光缆和架空光缆分规范 IEC 60794-3-2001

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